La méthode
1. Constitution d'un groupe de travail
Le dispositif étant concrètement défini (plans étude, gammes et moyens de fabrication ou de contrôle), le concepteur ou le service prévoyant des risques quant à la tenue des objectifs de fiabilité ou de maintenabilité se doit de demander la constitution d'un groupe d'analyse A.M.D.E.C.
Du fait de sa parfaite connaissance du sujet, le concepteur est en général le pilote et s'entoure des personnes compétentes ayant des responsabilités, des informations ou la connaissance du dispositif ou de dispositifs analogues(Services Etudes, Laboratoires, Essais, Qualité, Méthodes, Achats et fournisseurs, Fabrication, Commerce).
Le groupe est composé des fonctions directement intéressées et peut faire appel à d'autres spécialistes en fonction des ordres du jour.
Il se réunit périodiquement jusqu'à la fin de l'analyse du dispositif.
Avant de commencer l'analyse, le groupe se doit de fixer un délai d'étude, les limites techniques de remise en question du dispositif et les grilles de notation si celles proposées ne conviennent pas
2. Décomposition fonctionnelle
Le groupe, après une présentation générale du dispositif et de son environnement, en fait une présentation schématique qui met en évidence tous ses composants avec leurs fonctions et leurs liaisons.
La définition des composants qui réalisent une fonction donnée du dispositif aide à expliquer le mécanisme de défaillance.
Nota : dans une A.M.D.E.C. Process - Produit, l'analyse porte sur les défaillances de production, et la décomposition fonctionnelle décrit une série d'opérations de production.
3. Evaluation des défaillances potentielles
Le travail du groupe se poursuit pour chaque composant du dispositif de la façon suivante :
1. Détermination des modes de défaillance, de leurs effets et de leurs causes
2. Evaluation et notation de chaque défaillance
Le groupe attribue à chaque défaillance :
Ces grilles de notation
3. Calcul de criticité et hiérarchisation
L'indice de criticité C de chacune des causes de défaillance est obtenu par le produit des notes
D : probabilité de non détection, O : probabilité d'occurrence et S : gravité. C = D x O x S
Remarque : dans l'analyse de certains dispositifs, il peut paraître intéressant d'accorder une priorité seulement à l'un ou l'autre des critères D, O ou S.
Cet indice établit une criticité relative du mode de défaillance.
Plus il est élevé, plus le mode de défaillance considéré est préoccupant.
A partir des indices de criticité, il est possible de hiérarchiser les défaillances et de recenser celles dont le niveau de criticité est supérieur à une limite définie par le groupe.
De telles défaillances peuvent être consignées dans un "livret de points critiques" qui permet un suivi des actions correctives ou préventives.