Coloquio del 11/06/2013

Técnica de caracterización de materiales

por espectroscopía de descarga luminiscente

con fuente RF pulsada (GD-OES)

Celia Olivero

HORIBA Scientific, Francia

Lugar:

Auditorio de Física PUCP

(Av. Universitaria cdra. 18, San Miguel, Lima)

Fecha y hora:

Martes 11/06/2013, 2:30 p.m.

La GD-OES RF (Radio Frequency, Glow Discharge Optical Emission Spectroscopy) pulsada es una técnica analítica única que sirve para realizar al mismo tiempo análisis superficial, perfiles de profundidad y composición elemental, con alta sensibilidad en casi todos los elementos de la tabla periódica, incluyendo elementos gaseosos, y para casi todos los materiales sólidos, como metales, aleaciones, semiconductores, polímeros, vidrios, etc. La técnica se basa en la extracción controlada de un área representativa del material de interés y en la detección simultánea de las especies extraídas, permitiendo la medida de la composición del material versus un perfil de profundidad. Como técnica analítica, complementa adecuadamente técnicas como XPS (X-ray photoelectron spectroscopy) y SEM (scanning electron microscopy).

En esta presentación varias aplicaciones de GD-OES RF serán expuestas, incluyendo el análisis de películas delgadas/gruesas, detección de impurezas, medidas del nivel de dopaje y la caracterización de mecanismos de difusión a través de perfiles de profundidad isotrópicos. (Click aquí para ver el afiche.)

Ingreso libre. Habrá café y galletas.

Informes: coloquios@fisica.pucp.edu.pe