Coloquio del 17/11/2011

Del principio de Vernier al procesamiento de imágenes con una resolución subpíxel:

teoría y aplicaciones

Patrick Sandoz

Centre National de la Recherche Scientifique,

Université de Franche-Comté

Lugar:

Auditorio de Física PUCP

(Av. Universitaria cdra. 18, San Miguel, Lima)

Fecha y hora:

Jueves 17/11, 12:30 p.m.

El principio de Vernier (P. Vernier, 1580-1637) ha sido conocido gracias a instrumentos como el nonio o “pie de rey”. Este instrumento permite la medición visual de piezas mecánicas, con una precisión sub-milimétrica. Su principio se basa en dos escalas complementarias cuyos campos de graduación difieren uno del otro. Estas escalas se encuentran ubicadas respectivamente en las partes fijas y móviles del instrumento. La diferencia en el tamaño de paso produce un desfase progresivo entre las dos escalas de graduación. Al final, la escala principal produce una medida aproximativa (paso 1 mm; resolución 1 mm) mientras que la escala secundaria produce el complemento sub-milimétrico (paso 1-e, resolución e mm).

El principio de Vernier ha sido extendido a la adquisición y procesamiento automáticos de imágenes para la medida de posición en el plano (x,y,Q). Un patrón de graduación se encuentra sobre el objeto de observación mientras que el otro es producido por la matriz de píxeles de la cámara. La resolución de estos sistemas ha sido reportada con valores mejores que 0.01 píxel en posición y 0.001° en rotación. Igualmente, medidas 3D pueden ser realizadas por medio de una configuración de estereovisión. Los principios de medida, tratamiento de imágenes y demostraciones de este método serán expuestos en esta conferencia. De igual manera, serán presentadas las aplicaciones de este método en el campo de la instrumentación y el dominio biomédico. (Click aquí para ver el afiche.)

Ingreso libre. Habrá café y galletas.

Informes: mbustamante@pucp.edu.pe