6月国際シンポジウム

ディペンダブルVLSI設計に関する国際シンポジウム

English Version

開催日: 2009年6月19日

場所: 京都リサーチパーク サイエンスホール（東地区１号館４階）

京都市下京区中堂寺粟田町93番地

開催趣旨

VLSI技術の微細化・大規模化・高性能化が進む中で、ソフトエラーやトランジスタが時間的に劣化するNBTIなどの物理的エラー、そしてトランジスタの製造ばらつきによる信頼性低下が問題となっている。32nm以降のSoCにとって、アーキテクチャ・回路・プロセス・モデリング・パッケージ・テストのうちでどれが最も重要なのか？本シンポジウムにおいて、当該分野における国内外からの著名な研究者を招待し、ディペンダブルVLSI技術に関する課題と解決策、将来動向についての論議を行う。今後の超微細・高信頼性CMOS VLSI技術の方向性を探る。

プログラム

アブストラクトや講演者紹介はこちらのPDFをご参照ください。

10:15-10:30

Opening Remarks: Toshiro Hiramoto （Chairman of 165 Research Committee)(Univ. of Tokyo)

Opening Remarks: Masahiko Yoshimoto (Program/General Chair)(Kobe Univ.)

10:30-11:15

"SoCs in 32nm and Beyond -New Design Challenges"

Shekhar Borkar (Intel)

11:15-12:00

"Circuit Design for Reliable Systems in 32nm Technology and Beyond"

James Warnock (IBM)

12:00-13:30

Lunch

13:30-14:15

"Test and Debug Challenges in a Deep Deep Deep Deep Submicron World"

Jason Stinson (Intel)

14:15-15:00

"Challenge to SoC Designers in 32nm Technology and Beyond"

Yukihiro Urakawa (Toshiba)

15:00-15:45

"Globally Optimized Robust System Design"

Subashish Mitra (Stanford)

Presentation

15:45-16:00

Break

16:00-16:45

"Dependable Space Computers and LSIs Robust for Soft Errors"

Hirobumi Saito (Japan Aerospace Exploration Agency)

16:45-17:30

"System-in-Package Approaches for Future Complex Device Integration"

Shintaro Yamamichi (NEC)

17:30-17:35

Closing Remarks: Hidetoshi Onodera (Representative of G-COE program in Kyoto University)

参加登録

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運営委員会

Program/General Chair: M. Yoshimoto (Kobe Univ.)

General Co-chair：T. Hiramoto (Univ. of Tokyo)

Organizers: H. Kawaguchi (Kobe Univ.), M. Takamiya (Univ. of Tokyo)

Secretary: M. Hashimoto (Osaka Univ.)

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共催

日本学術振興会 シリコン超集積化システム第165委員会

Global COE for Education and Research on Photonics and Electronics Science and Engineering, Kyoto University

協賛

IEEE SSCS Kansai Chapter

IEEE SSCS Japan Chapter

Association for JSPS University - Industry Research Cooperation

VDEC, University of Tokyo