TWI825932
用於內螺紋瑕疵檢測之機構及方法 [TWI825932]
用於內螺紋瑕疵檢測之機構及方法 [TWI825932]
#專利資訊：
#專利資訊：
許光城,林冠宏,許源哲,蔡映鑫,20231211,用於內螺紋瑕疵檢測之機構及方法 (MECHANISM AND METHOD FOR DETECTION OF INTERNAL THREAD DEFECTS), TWI825932, 國立高雄科技大學.
#專利摘要：
#專利摘要：
一種用於內螺紋瑕疵檢測之機構及方法，其中該機構包括一支架單元、一旋轉單元、一夾抓單元以及一攝影模組，利用該攝影模組的一移軸鏡頭的移軸操作來改變焦平面的位置，能夠從螺帽的內螺紋取得清晰度較高的影像，以檢測較小尺寸的瑕疵。
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TWI825932.pdf