ICTMS 2013 会議参加

2013年7月1日より、ベルギーのUniv. of Ghentで開催されている1st International Conference on Tomography of Materials and Structures; ICTMS 2013 に参加しています。今回が第1回ということでしたが、10年ほど前からの地質学関係のXCT技術の国際会議が伏線となっているようです。口頭発表とポスターがそれぞれ約80件あり、参加者も250名を超えているということで、かなりの賑わいです。機械部品のスキャニングに関するものもそれなりにあり、参考になります。また、Univ. of Ghent では活発な研究開発が行われています。同じベルギーのLuevenは、XTECをもつ元Metris、現Nikon Metrology があり、また Univ. Lueven でも研究開発が行われています。ベルギーは、XCT研究の一つの中心となっているようです。