SFT-3200S 中古蛍光Ｘ線膜厚計 販売済

標準タイプです。

金メッキ事業廃止に伴い、前所有者様が放出致しました。

弊社にてセミオーバーホールを施して販売させて頂きました。

校正用Ｘ線画面です。

Ｘ線管球はWターゲットです。

比例計数管分解能は Ni 1.20KeV、 Sn 2.05KeV と良好です。

ちなみに、メーカーによる定期点検時の基準値は Ni 1.4KeV、 Sn 2.3KeV 以下です。

Ｘ線管球の使用時間は2974.8時間です。（平成28年11月12日時点）

パソコンのOSはXPです。インターネットに接続しなければ全く問題はありません。

アプリケーション選択画面です。

1.定性分析：Ｔｉより重い物質の定性分析、強度測定等を行います。

2.ルーチン測定：レシピを作成することで、メッキ膜厚や成分比の自動測定・自動結果 出力等を行います。

3.バルクＦＰ：メッキ液、合金、粉体等の成分比測定をＦＰ法にて行います。

4.バルク検量線：メッキ液、合金、粉体等の成分比測定を検量線法にて行います。

5.薄膜ＦＰ：メッキ膜厚測定をＦＰ法にて行います。

6.薄膜検量線：メッキ膜厚測定を検量線法にて行います。

7.保守：測定ヘッドテスト、安定性試験、校正基準値登録、校正値グラフ表示等を実施します。

8.データ処理：測定結果をエクセル等にて処理する時に使用します。

（オプションにより、使用出来ないアプリケーションもあります。）

試料画面は 100％ 75％ 50％ 25％ の切り替えが可能です。

XYZ軸は全てマウスで操作可能です。また、軽快な速度で動作致します。

コリメータは上記6種類です。

定性分析の画面です。検出器が比例計数管ですので、簡易分析となります。

Au/Ni/Cu（二層メッキ）の10秒100回測定です。

コリメータサイズ：0.3mmφ

FP法(密度補正あり）

測定結果です。