P
parallel plate capacitor, 308
평행 도체판 커패시터
parasitic resistance, 780–7
기생 저항
base resistance, 782–6
베이스 저항
integrated Si PN diode, 343–4
집적된 실리콘 PN 다이오드
I–V characteristics, 781
전류-전압(I-V) 특성
small-signal equivalent circuit model, 781
소신호 등가 회로 모델
particle flux, 140
입자 선속(flux)
particle-wave duality, 4
입자-파동 이중성(duality)
part per million (ppm), 821
백만 분의 일(ppm)
Pauli exclusion principle, 8, 12, 20
파울리(Pauli)의 배타 원리
permittivity of vacuum, 817
진공의 유전률
phonon scattering, 134
포논(phonon, 진동의 입자적 표현) 산란
photoelectric effect, 4
광전 효과
photon, dual nature of the, 1–5
포논(phonon, 진동의 입자적 표현)의 이중성(dual nature)
Planck’s constant, 817
프랑크 상수(Planck's constant)
PN junction diode
PN 접합 다이오드
applications, 281
용도(응용분야)
built-in potential, 289
내부에 형성된(built-in) 전위
charge–voltage characteristics, 308–13
전하-전압 특성
circuit symbol, 283
회로 심볼(기호)
CMOS, 281, 282
CMOS(상보금속산화물반도체)
current–voltage characteristics see current–voltage
characteristics, PN junction diode
PN 접합 다이오드의 전류-전압 특성
definition, 282–3
정의
depletion approximation, 349–50
공핍(드플리션) 근사
equivalent circuit model, 313–20
등가 회로 모델
integrated circuits see integrated PN diode
집적회로 (집적된 PN 다이오드 참고)
nonidealities and second-order effects, 320–
비이상성 및 2차 효과
quasi-neutral region resistance, 350–1
유사(준) 중성 영역의 저항
switching characteristics, 353–8
스위칭 특성
in thermal equilibrium, 283–90
열 평형 상태에서
views of integrated, 281, 282
집적회로 관점
Poisson–Boltzmann formulation, MOS structure, 464, 468, 499
MOS 구조의 포아송-볼츠만(Poisson-Boltzmann) 표현(방정식)
acceptor doping level, 508, 510
억셉터(수혜자) 도핑 준위
approximations for
근사
accumulation, 512–13
축적
depletion, 511
공핍(디플리션)
inversion, 514–16
반전
charge neutrality, 498
전하 중성 조건
electric field, 500, 501, 504
전계
electron concentration, 506, 507
전자 농도
electrostatic potential, 500, 505, 510
정전위
energy band diagrams, 505
에너지 밴드 다이어그램
hole concentration, 506, 507
정공 농도
insulator/semiconductor interface, 500, 503
부도체와 반도체 사이의 계면
quasi-equilibrium, 498
유사(준) 평형상태
semiconductor capacitance, 506, 507, 509
반도체 커패시턴스
semiconductor charge, 501
반도체 전하
semiconductor charge vs. applied voltage, 502, 503
반도체 전하의 인가 전압과의 상관관계
subthreshold regime, 506, 508
서브스레쉬홀드(subthreshold) 동작 영역
surface potential vs. applied voltage, 502
표면 전위의 인가 전압과의 상관관계
volume charge density, 502, 504
단위 부피 당 전하량
polysilicon depletion, 640, 641
폴리실리콘(polysilicon) 공핍(depletion)
C–V characteristics, of MOS structure, 642, 643
MOS 구조의 커패시턴스-전압(C-V) 특성
and finite thickness of inversion layer, 639
그리고 반전 영역의 유한한 두께
polysilicon emitter, 791
폴리실리콘(polysilicon) 이미터
positive-bias temperature stress (PBTS), 493
양의 바이어스와 온도로 인한 스트레스 (PBTS)
potential energy, 144, 145
퍼텐셜 에너지
power constrained scaling, 680
전력 제한 스케일링(scaling)
power-delay product, 669
전력-지연 곱(power-delay product)
principle of detailed balance, 89
세부적인 균형에 관한 원리
PtSi/n-Si Schottky diodes, I–V characteristics of, 394–6
PtSi/n-Si 쇼트키 다이오드의 전류-전압(I-V) 특성
pulse of light, 111–15
광 펄스
punchthrough breakdown, 765–7
펀치스루 (punchthrough, 두개 이상의 접합에 존재하는 공핍영역(depletion region)이 합쳐지는 현상)에 의한 항복