探測與元件 (Probe&Lumped)
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【探測與元件 (Probe&Lumped)】
1.選擇要的探測或集種元件功能
探測 Electric field (E), magnetic field (H), Voltage (V), Current (I)
探測場做快速複立葉積分 (Fast Fourier Transform, FFT)
集種元件有電壓源、電流源、電阻、電感、電容、平面導體、載入平面導體
平面導體使用時機為:當材料厚度小於解析度delta (dx, dy, dz)
材料厚度 < delta (dx, dy, dz)
(例如 PCB, 銅箔厚度非常薄,模擬時如果小於解析度dx, 此時可以選擇載入平面導體的方式來描述)
2.確認是否正確
3.創建探測&集種元件
(即使沒有使用 Probe 或 Lumped element,還是要按此按鈕創建空的網格)
詳細說明:
探測電場可以觀測的分量 Ex, Ey, Ez or |E| = sqrt(Ex^2+Ey^2+Ez^2), (沒有方向性)
探測磁場可以觀測的分量 Hx, Hy, Hz or |H| = sqrt(Hx^2+Hy^2+Hz^2), (沒有方向性)
探測電壓, (有方向性)
探測電流, (有方向性)
集總元件 (Lumped element circuit)
電壓源, (有方向性)
電流源, (有方向性)
電阻, (沒有方向性)
電感, (沒有方向性)
電容, (沒有方向性)
平面導體
載入平面導體 (Load Wire *.stl)
解析度級數 (可以調整級數來修正)
平面導體使用時機為:當材料厚度小於解析度delta (dx, dy, dz)
材料厚度 < delta (dx, dy, dz)
(例如 PCB, 銅箔厚度非常薄,模擬時如果小於解析度dx, 此時可以選擇載入平面導體的方式來描述)