探測與元件 (Probe&Lumped)

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【探測與元件 (Probe&Lumped)】

1.選擇要的探測或集種元件功能

探測 Electric field (E), magnetic field (H), Voltage (V), Current (I)

探測場做快速複立葉積分 (Fast Fourier Transform, FFT)

集種元件有電壓源、電流源、電阻、電感、電容、平面導體、載入平面導體

平面導體使用時機為:當材料厚度小於解析度delta (dx, dy, dz)

材料厚度 < delta (dx, dy, dz)

(例如 PCB, 銅箔厚度非常薄，模擬時如果小於解析度dx, 此時可以選擇載入平面導體的方式來描述)

2.確認是否正確

3.創建探測&集種元件

(即使沒有使用 Probe 或 Lumped element，還是要按此按鈕創建空的網格)

詳細說明:

探測電場可以觀測的分量 Ex, Ey, Ez or |E| = sqrt(Ex^2+Ey^2+Ez^2), (沒有方向性)

探測磁場可以觀測的分量 Hx, Hy, Hz or |H| = sqrt(Hx^2+Hy^2+Hz^2), (沒有方向性)

探測電壓, (有方向性)

探測電流, (有方向性)

集總元件 (Lumped element circuit)

電壓源, (有方向性)

電流源, (有方向性)

電阻, (沒有方向性)

電感, (沒有方向性)

電容, (沒有方向性)

平面導體

載入平面導體 (Load Wire *.stl)

解析度級數 (可以調整級數來修正)

平面導體使用時機為:當材料厚度小於解析度delta (dx, dy, dz)

材料厚度 < delta (dx, dy, dz)

(例如 PCB, 銅箔厚度非常薄，模擬時如果小於解析度dx, 此時可以選擇載入平面導體的方式來描述)