AlNショットキーバリアダイオードの電流輸送機構の解明に関する論文(Proceedings)がIEDM Technical DigestとしてIEEE Xploreに公開されました

IEDM 2024で発表した研究がIEDM Technical DigestとしてIEEE Xploreに公開されました．

T. Maeda*, Y. Wakamoto*, I. Sasaki*, A. Munakata*, M. Hiroki**, K. Hirama**, K. Kumakura**, Y. Taniyasu**,
*The University of Tokyo, **NTT Basic Research Lab. NTT Corporation 
"Thermionic Field Emission in a Si-doped AlN SBD with a Graded n+-AlGaN Top Contact Layer,"
IEDM 2024 Technical Digest, 25.4.