ScAlNの構造評価と機械学習による格子定数の予測に関する論文が Applied Physics Express に公開されました

東京理科大学，名古屋大学，東京大学（藤岡研究室）との共同研究による研究成果が Publish されました．

A. Kobayashi, Y. Honda, T. Maeda, T. Okuda, K. Ueno, H. Fujioka,
"Structural characterization of epitaxial ScAlN films grown on GaN by low-temperature sputtering",
Applied Physics Express 17, 011002 (2024). [OPEN ACCESS] Link