(Design-for-Testability for In-Memory Computing in AI Semiconductor)
산업통상자원부, 2025.04.01. ~ 2027.12.31.
디지털 PiM 테스트 아키텍처 및 진단 기술 개발
디지털 PiM 테스트 회로 및 제어 기술 개발
디지털 PiM 수리 구조 및 알고리즘 기술 개발
디지털 PiM 테스트·수리 통합 최적화 기술 개발
(Modeling and Optimization of Large-Scale Fail Address Analysis Processes)
SK하이닉스, 2026.07.01.~2028.06.30.
대용량 Fail Address 데이터 전처리 및 최적화 기술 개발
Failure Shape Analysis (FSA) 분류 및 임베딩 기술 개발
Group Fail 기반 결함 분석 및 패턴 추출 기술 개발
대용량 분석 프로세스 통합 및 성능 최적화 기술 개발
(AI-Accelerated High-Speed Processing System for HBM/DDR5 Testers)
중소벤처기업부, 2026.07.01.~2028.06.30.
AI 기반 Repair Analysis 알고리즘 개발
AI 기반 Repair Solution 탐색 가속 기술 개발
AI 기반 Repair Analysis 성능 최적화 기술 개발
Repair Analysis 성능 검증 및 고도화 기술 개발
(AI-Based Memory Test and Repair Simulation Technologies)
인포큐브, 2026.07.01.~2027.06.30.
메모리 병렬 테스트 시뮬레이션 기술 개발
메모리 구조 대응 수리 시뮬레이션 기술 개발
메모리 테스트 및 수리 시뮬레이션 플랫폼 개발
AI 기반 메모리 테스트 및 수리 시뮬레이션 최적화 기술 개발
(Design-for-Testability for AI-Accelerator-based Semiconductor)
아주대학교, 2024.09.01. ~ 2026.08.31.
AI 가속기 자가 테스트 및 결함 검출 기술 개발
AI 가속기 자가 진단 및 결함 분석 기술 개발
AI 가속기 자가 수리 구조 및 제어 기술 개발
AI 가속기 테스트·진단·수리 통합 최적화 기술 개발