(메모리와 로직 반도체가 연동된 지능형 반도체 테스트 용이화 설계 기술)
산업통상자원부, 2025.04.01. ~ 2027.12.31.
Digital PiM 테스트 기법 및 테스트 회로 설계 기술
Digital PiM의 데이터 연산 우회 경로 및 예비 자원 구조 설계 기술
Digital PiM 데이터 스케줄링 및 고장 수리를 위한 내장 회로 설계 기술
Digital PiM의 메모리 및 로직 통합 수리 내장 회로 설계 기술
(초고속 메모리 테스트 데이터 처리 기법 및 수리 솔루션 개발)
인포큐브, 2025.05.01. ~ 2026.04.30.
초고속 메모리 고장 분석 시뮬레이터 개발
초고속 메모리 테스트 데이터 처리 기술 개발
초고속 메모리 수리 솔루션 개발
(초고속 메모리 시스템 장비 구조 개발)
산업통상자원부, 2022.04.01. ~ 2024.12.31.
초고속 메모리 시스템을 위한 APG 및 Schedule 구조 개발
초고속 메모리 시스템을 위한 초고속 결과 처리 구조 개발
초고속 메모리 시스템을 위한 Pin Module 구조 개발
(차세대 메모리 테스트 기술 개발)
SK하이닉스, 2020.12.01. ~ 2023.11.30.
메모리 Core 영역 고장 시뮬레이터 개발
메모리 Peri 영역 uBridge 검출용 벡터 추출 기법 개발
GPU 기반 Redundancy Analysis 기법 개발
(지능형 반도체를 위한 테스트 회로 설계 기술)
산업통상자원부, 2020.05.01. ~ 2022.12.31.
지능형 반도체의 신뢰성 확보를 위한 자가 테스트 회로 설계
지능형 반도체의 테스트 시간 최소화를 위한 테스트 스케줄링 기술 개발
지능형 반도체의 테스트 안정성 확보를 위한 저전력 테스트 회로 설계
(인-메모리 컴퓨팅의 로버스트니스 향상을 위한 반도체 설계 기술)
한국연구재단, 2019.03.01. ~ 2022.02.28.
인-메모리 컴퓨팅 시스템에 적합한 자가 지단 기술
인-메모리 컴퓨팅 시스템의 보안성 향상을 위한 자가 보호 기술
인-메모리 컴퓨팅 시스템을 위한 비메모리/메모리의 자가 치유 기술
(Statistical DRAM fault 모델링과 이에 기반한 fault 생성 기술)
SK하이닉스, 2018.08.01. ~ 2020.07.31.
메모리 고장 분석 시스템 개발
Tech 변화에 따른 메모리 고장 예측 시스템 개발
(TSV 기반 3D-IC 수율 향상을 위한 테스트 및 테스터 기술)
산업통상자원부, 2015.06.01. ~ 2020.05.30.
ATE 장비 기반 3D-IC 수율 향상을 위한 알고리즘 개발 연구
3D-IC 최적화용 Spare 구조 및 알고리즘, 하드웨어 개발 연구
테스트 플랫폼 개발 연구