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Active Projects

대용량 Fail Address 분석 프로세스 모델링 및 최적화 기법 연구

(Modeling and Optimization of Large-Scale Fail Address Analysis Processes )

SK하이닉스, 2026.07.01.~2028.06.30. [상세정보]

대용량 Fail Address 데이터 전처리 및 최적화 기술 개발
Failure Shape Analysis(FSA) 분류 및 임베딩 기술 개발
Group Fail 기반 결함 분석 및 패턴 추출 기술 개발
대용량 분석 프로세스 통합 및 성능 최적화 기술 개발

메모리와 로직 반도체가 연동된 지능형 반도체 테스트 용이화 설계 기술

(Design-for-Testability for In-Memory Computing in AI Semiconductor)

산업통상자원부, 2025.04.01. ~ 2027.12.31. [상세정보]

디지털 PiM 테스트 아키텍처 및 진단 기술 개발
디지털 PiM 테스트 회로 및 제어 기술 개발
디지털 PiM 수리 구조 및 알고리즘 기술 개발
디지털 PiM 테스트·수리 통합 최적화 기술 개발

AI 가속기 기반 지능형 반도체의 테스트 용이화 설계 기술

(Design-for-Testability for AI-Accelerator-based Semiconductor)

아주대학교, 2024.09.01. ~ 2026.08.31. [상세정보]

AI 가속기 자가 테스트 및 결함 검출 기술 개발
AI 가속기 자가 진단 및 결함 분석 기술 개발
AI 가속기 자가 수리 구조 및 제어 기술 개발
AI 가속기 테스트·진단·수리 통합 최적화 기술 개발

Completed Projects

초고속 메모리 테스트 데이터 처리 기법 및 수리 솔루션 개발

(High-Speed Memory Test Data Processing Techniques and Repair Solutions)

인포큐브, 2025.05.01. ~ 2026.04.30.

초고속 메모리 테스트 데이터 수집 및 처리 기술 개발
지능형 고장 분석 및 결함 검출 기술 개발
메모리 수리 솔루션 탐색 및 최적화 기술 개발
테스트 데이터 처리 플랫폼 통합 및 최적화 기술 개발

초고속 메모리 시스템 장비 구조 개발

(Research on System of Test Equipment for High Speed Memory)

산업통상자원부, 2022.04.01. ~ 2024.12.31.

초고속 테스트 패턴 생성 및 APG 구조 개발
초고속 테스트 결과 데이터 처리 기술 개발
초고속 신호 전달을 위한 Pin 인터페이스 기술 개발
초고속 메모리 테스트 플랫폼 통합 및 최적화 기술 개발

차세대 메모리 테스트 기술 개발

(Next-Generation Memory Testing Technologies)

SK하이닉스, 2020.12.01. ~ 2023.11.30.

메모리 고장 모델링 및 시뮬레이션 기술 개발
메모리 Core 및 Peri 영역 테스트 기술 개발
테스트 결과 데이터 분석 및 압축 기술 개발
GPU 기반 고속 Redundancy Analysis 기술 개발

지능형 반도체를 위한 테스트 회로 설계 기술

(Design for Test of Intelligent Processors)

산업통상자원부, 2020.05.01. ~ 2022.12.31.

높은 테스트 커버리지를 위한 자가 테스트 회로 설계 기술
테스트 접근 및 스케줄링 최적화 기술
저전력 테스트 회로 설계 및 최적화 기술
지능형 반도체 테스트 플랫폼 통합 및 최적화 기술

인-메모리 컴퓨팅의 로버스트니스 향상을 위한 반도체 설계 기술

(Design for Robustness for In-Memory Computing System)

한국연구재단, 2019.03.01. ~ 2022.02.28.

인-메모리 컴퓨팅 시스템을 위한 자가 진단 기술 개발
인-메모리 컴퓨팅 시스템의 보안성 향상을 위한 자가 보호 기술 개발
메모리 및 비메모리 오류 복구를 위한 자가 치유 기술 개발
로버스트니스 IP 통합 및 최적화 기술 개발

Statistical DRAM fault 모델링과 이에 기반한 fault 생성 기술

(Statistical DRAM Fault Modeling and Fault Generation Technologies)

SK하이닉스, 2018.08.01. ~ 2020.07.31.

DRAM fail data 기반 통계적 고장 분석 기술 개발
고장 유형·분포·밀도 기반 DRAM fault 모델링 기술 개발
입력 조건 변화에 따른 fault 예측 및 생성 기술 개발
가상 fault data 기반 수율 예측 및 RA 최적화 기술 개발

TSV 기반 3D-IC 수율 향상을 위한 테스트 및 테스터 기술

(Test and Tester Technologies for Yield Enhancement of TSV based 3D-ICs)

산업통상자원부, 2015.06.01. ~ 2020.05.30.

3D-IC 수율 향상을 위한 테스트 및 수리 기술 개발
적층 반도체 테스트 접근 구조 설계 기술
인터커넥트 결함 분석 및 신뢰성 평 기술
병렬 테스트 및 테스터 플랫폼 기술 개발

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