(2026)
27. 황윤제, 장성훈, 곽준우, 이하영, "Digital PIM 신뢰성 향상을 위한 Exponent-Embedded ECC 아키텍처," in Proc. Korea Test Conf., Seoul, Korea, Jul. 2026.
26. 황윤제, 강영훈, 장성훈, 이하영, "PiM 시스템의 연산 활용률 향상을 위한 경량 압축 해제 아키텍처," in Proc. Korea Test Conf., Seoul, Korea, Jul. 2026.
25. 정진철, 이수령, 강성호, 이하영, "3D-IC 신뢰성 향상을 위한 MBISR 기반 TSV 자가 테스트 구조," in Proc. Korea Test Conf., Seoul, Korea, Jul. 2026.
24. 장성훈, 김윤식, 황윤제, 이하영, "PIM의 테스트 시간 단축을 위한 오류 정정 코드 기반 자가 테스트 아키텍처," in Proc. Korea Test Conf., Seoul, Korea, Jul. 2026.
(2025)
23. 강영훈, 이하영, "PiM을 위한 효율적인 테스트 및 진단 아키텍처," in Proc. Korea Test Conf., Seoul, Korea, Jul. 2025.
(2024)
22. 신승호, 이수령, 이주용, 이하영, 강성호, "다중 메모리 테스트를 위한 효율적인 고장 비트맵 구조," in Proc. Korea Test Conf., Seoul, Korea, Jul. 2024.
21. 윤준식, 이하영, 정화영, 강성호, "결함 없는 영역 분석을 통한 효율적인 BISR," in Proc. Korea Test Conf., Seoul, Korea, Jul. 2024.
20. 정화영, 이하영, 윤준식, 이수령, 강성호, "Row hammer 해결을 위한 효율적인 행 활성화 빈도 추적 기반 방법론," in Proc. Korea Test Conf., Seoul, Korea, Jul. 2024.
(2023)
19. 신승호, 이하영, 유연우, 강성호, "GPU 병렬처리 기반의 효율적인 RA 전처리 방법론," in Proc. Korea Test Conf., Seoul, Korea, Jun. 2023.
18. 이주용, 이하영, 이수령, 강성호, "고속의 비선형 알고리즘 패턴 생성을 위한 명령어 집합 구조," in Proc. Korea Test Conf., Seoul, Korea, Jun. 2023.
17. 이수령, 이주용, 이하영, 강성호, "명령어 집합 기반의 루프 합성을 이용한 고속 ALPG," in Proc. Korea Test Conf., Seoul, Korea, Jun. 2023.
16. 이하영, 이수령, 이주용, 강성호, "테스트 비용 감소를 위한 메모리 고장 데이터 처리 구조," in Proc. Korea Test Conf., Seoul, Korea, Jun. 2023.
(2022)
15. 유연우, 이하영, 신승호, 이수령, 강성호, "고장 검출률 향상을 위한 메모리 구조 기반 패턴 생성 기법," in Proc. Korea Test Conf., Seoul, Korea, Jun. 2022.
14. 이하영, 이수령, 신승호, 유연우, 강성호, "3차원 집적 회로 수율 향상을 위한 스위치 행렬 기반 TSV 수리 기법," in Proc. Korea Test Conf., Seoul, Korea, Jun. 2022.
(2021)
13. 이하영, 신승호, 유연우, 강성호, "Dictionary-based Dynamic Redundancy Analysis," in Proc. Inst. Semicond. Eng. Gen. Conf., Seoul, Korea, Dec. 2021.
12. 이하영, 신승호, 유연우, 강성호, "3D-IC 수율 향상을 위한 메모리 수리 최적화 방법론," in Proc. Korea Test Conf., Online, Jun. 2021.
(2020)
11. 우형일,이하영, 강성호, "스캔 체인을 통한 데이터 추출 및 주입을 이용한 post-silicon 디버깅 상황에서의 빠른 버그 재현 기법," in Proc. Korea Test Conf., Online, Oct. 2020.
10. 김호경, 이하영, 김지혜, 장석준, 강성호, "Pivot 고장 저장 방식을 이용한 다중 뱅크 메모리 수율 향상 방법론," in Proc. Korea Test Conf., Online, Oct. 2020.
(2019)
9. 이하영, 한동현, 이승택, 강성호, "메모리 수율 향상을 위한 동적 수리 가능성 탐색 방법론," in Proc. Korea Test Conf., Seoul, Korea, Jun. 2019.
8. 한동현, 이하영, 이승택, 강성호 , "고장 비율 및 수리 공정의 특성에 따른 알고리즘의 효과성 분석," in Proc. Korea Test Conf., Seoul, Korea, Jun. 2019.
(2018)
7. 이승택, 이하영, 한동현, 강성호, "A Reduction of Redundancy Analysis Time for Memories with Overlap of Repair Block," in Proc. Korea Test Conf., Seoul, Korea, Jun. 2018.
6. 이하영, 한동현, 이승택, 강성호, "다양한 예비자원 구조를 활용한 메모리 수리 방법론," in Proc. Korea Test Conf., Seoul, Korea, Jun. 2018.
5. 이하영, 한동현, 이승택, 강성호, "메모리 예비자원 사용 효율을 고려한 3차원 메모리 수리 기법," in Proc. Korea Conf. Semicond., Gangwon State, Korea, Feb. 2018.
(2017)
4. 김동현, 이하영, 강성호, "ECC를 사용하는 메모리의 수율 향상을 위한 퓨즈 구조," in Proc. Korea Test Conf., Seoul, Korea, Jun. 2017.
3. 이하영, 김주영, 김동현, 강성호, "고장 그룹화 및 고장 그룹 분류 기반 메모리 수리 방법론," 한국반도체학술대회, 2017.02.14.
(2016)
2. 김주영, 조기원, 이하영, 강성호, "다중 메모리 블록 환경에서의 2D BIRA 하드웨어 구조," in Proc. Korea Test Conf., Seoul, Korea, Jun. 2016.
1. 이하영, 조기원, 김주영, 강성호, "고장 분류 기반 early termination 방법," in Proc. SoC Conf., Seoul, Korea, May 2016.