Patents

국제출원특허 (International Application Patents)

04. "시스템 온 칩을 위한 멀티-사이트 테스트 장치 및 방법"

      Inventors: 이영우, 김현빈

      출원번호 : PCT/KR2024/000218, 출원일자 : 2024.07.04

03. "병렬성 향상을 위한 테스트 핀 수 절감 장치 및 방법"

      Inventors: 이영우, 신재환

      출원번호 : PCT/KR2024/000215, 출원일자 : 2024.01.04

02. "SECURITY CIRCUIT FOR DETECTING PHYSICAL ATTACK ON SYSTEM SEMICONDUCTOR"

      Inventors: 이영우, 배준영

      출원번호 : US 18/390,657, 출원일자 : 2023.12.20

01. "고속 메모리(high-speed memory)에 대하여 선형 테스트를 수행하기 위한 자동화 테스트 기기 및 그 동작 방법"

      Inventors: 이영우, 박석민

      출원번호 : PCT/KR2023/014955, 출원일자 : 2023.09.27

국내출원특허 (Domestic Application Patents)

17. "고신뢰성 인공지능 데이터 프로세싱 모듈"

      Inventors : 이영우, 윤성관

      출원번호 : 10-2024-0186251, 출원일자 : 2024.12.13

16. "양산 환경에 적용가능한 테스트 병렬성 극대화 기법"

      Inventors : 이영우, 신재환, 김현빈

      출원번호 : 10-2024-0184070, 출원일자 : 2024.12.11

15. "메모리 테스트 패턴 생성을 위한 프로그래밍 Instruction Set Architecture"

      Inventors : 이영우, 박석민

      출원번호 : 10-2024-0184100, 출원일자 : 2024.12.11

14. "태양광 열화 가속 평가 장치 및 방법"

      Inventors : 이영우

      출원번호 : 10-2023-0195292, 출원일자 : 2023.12.28

13. "차량용 자율주행 센서의 실차 기반 테스트 장치 및 보정 방법"

      Inventors : 이영우

      출원번호 : 10-2023-0182131, 출원일자 : 2023.12.14

12. "마커(marker) 없이 햅틱(haptics)장치 상에 가상현실을 구현하는 전자 장치 및 그 동작 방법"

      Inventors : 이영우

      출원번호 : 10-2023-0149881, 출원일자 : 2023.11.02

11. "병렬성 향상을 위한 테스트 핀 수 절감 장치 및 방법"

      Inventors : 이영우, 신재환

      출원번호 : 10-2023-0064777, 출원일자 : 2023.05.19

10. "시스템 온 칩을 위한 멀티-사이트 테스트 장치 및 방법"

      Inventors : 이영우, 김현빈

      출원번호 : 10-2023-0064776, 출원일자 : 2023.05.19

09. "시스템 반도체에 대한 물리적 공격을 검출하기 위한 보안 회로"

      Inventors : 이영우, 배준영

      출원번호 : 10-2023-0077336, 출원일자 : 2023.06.16

08. "고속 메모리에 대하여 선형 테스트를 수행하기 위한 자동화 테스트 기기 및 그 동작 방법"

      Inventors : 이영우, 박석민

      출원번호 : 10-2023-0057777, 출원일자 : 2023.05.03

07. "침투 공격 검출이 가능한 초소형 온칩 보안 회로 장치 및 그 방법"

      Inventors : 이영우, 양다빈

      출원번호 : 10-2023-0026804, 출원일자 : 2023.02.28

06. "메모리 반도체 최적의 예비자원 수 예측 방법 및 장치"

      Inventors : 이영우, 박석민, 양다빈, 권예린, 배준영

      출원번호 : 10-2023-0116161, 출원일자 : 2022.09.15

05. "집속 이온빔 공격 검출 방법 및 이를 위한 보안회로"

      Inventors : 이영우, 배준영, 오준석

      출원번호 : 10-2022-0116161, 출원일자 : 2022.09.15

04. "침투 공격에 대해 검출 및 보호가 가능한 온칩 보안 회로"

      Inventors : 강성호, 이영우

      출원번호 : 10-2019-0068762, 출원일자 : 2019.06.11

03. "TSV 병렬 테스트 장치 및 방법"

      Inventors : 강성호, 이영우

      출원번호 : 10-2018-0051603, 출원일자 : 2018.05.04

02. "반도체 테스트 프로그램 디버깅과 관련된 테스트 항목들의 우선순위를 결정하기 위한 장치 및 방법"

      Inventors : 강성호, 이영우

      출원번호 : 10-2017-0010670, 출원일자 : 2017.01.23

01. "TSV테스트 및 분석 회로 및 테스트 방법"

      Inventors : 강성호, 이영우

      출원번호 : 10-2016-0032768 , 출원일자 : 2016.03.18