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국내학회 (Domestic Conferences)
35. “ZQ Calibration 회로를 활용한 AP Top Socket의 컨택 저항 측정 방법”
오종수, 이영우
제 26회 한국 테스트 학술대회
2025년 7월
34. “고급언어 기반 메모리 테스트 패턴 알고리즘 명령어 변환 모듈”
박석민, 민헌준, 이영우
제 26회 한국 테스트 학술대회
2025년 7월
33. “Fault Coverage 향상을 위한 분할된 결정론적 시드 기반 LBIST 구조 ”
정성빈, 김현빈, 이영우
제 26회 한국 테스트 학술대회
2025년 7월
32. “테스트 커버리지 향상을 위한 양자 게이트 기반 테스트 패턴 생성기의 FPGA 설계”
최병민, 신재환, 이영우
제 26회 한국 테스트 학술대회
2025년 7월
31. “Systolic Array의 SEU 및 영구 결함 검출을 위한 실시간 자가테스트 구조 ”
윤성광, 이영우
제 26회 한국 테스트 학술대회
2025년 7월
30. “방향성 비트 반전을 고려한 SEU 편향 기반 SDC 인식 마스킹 기법”
조주형, 신재환, 이영우
2025년 반도체공학회 하계종합학술대회
2025년 7월
29. “시스톨릭 어레이 기반 인공지능 가속기를 위한 부채널 공격 대응 및 고장 자가 수리 기술”
방찬혁, 윤성광, 이영우
2025년 반도체공학회 하계종합학술대회
2025년 7월
28. “3차원 반도체의 개방 불량 조기 검출을 위한 테스트 기법”
양다빈, 이승한, 김진술, 이영우
제 25회 한국 테스트 학술대회
2024년 7월
27. “TSV 수리 가능 여부 조기 판단이 가능한 인공지능 학습 모델 분석”
이가영, 오종수, 김진술, 이영우
제 25회 한국 테스트 학술대회
2024년 7월
26. “2D diagonal parity mapping 기반의 TSV 테스트 기법”
오준석, 이승한, 오종수, 김진술, 이영우
제 25회 한국 테스트 학술대회
2024년 7월
25. “양산 환경을 고려한 병렬 테스트 기법”
김현빈, 신재환, 이영우
제 25회 한국 테스트 학술대회
2024년 7월
24. “CAN ID 오류 검출이 가능한 차량용 네트워크 신뢰성 향상 기법”
이승한, 김현빈, 이영우
2024 한국통신학회 하계종합학술발표회
2024년 6월
23. “태양광에 의한 차량용 카메라 내구 열화 현상 연구 및 필드 고품 분석”
박제우, 성기우, 이영우, Nhi V.Quach, 김용휘
2023 한국신뢰성학회 학술대회
2023년 11월 (우수논문상 수상)
22. “Cross-Parity 기반의 향상된 스캔 테스트 구조”
김현빈, 박석민, 신재환, 오준석, 이영우
2023 전자, 반도체, 인공지능 학술대회
2023년 8월
21. “TFT-LCD의 외부 보상 회로 기반 신뢰성 향상 기법”
이가영, 고명진, 이영우
제 24회 한국 테스트 학술대회
2023년 6월 (우수논문상 수상)
20. “비인가된 Microprobing 접근 검출이 가능한 초소형 보안 회로”
양다빈, 배준영, 이영우
제 24회 한국 테스트 학술대회
2023년 6월 (우수논문상 수상)
19. “DC 파라미터 테스트의 병렬성 향상을 위한 Reconfigurable 테스트 인터페이스 구조”
오준석, 배준영, 이영우
제 24회 한국 테스트 학술대회
2023년 6월
18. “병렬성 향상을 위한 테스트 핀 감소 기법”
신재환, 배준영, 이영우
제 24회 한국 테스트 학술대회
2023년 6월
17. “3차원 반도체의 단일 셀 수리 구조에 적용 가능한 나선형 수리 알고리즘”
박석민, 이영우
제 24회 한국 테스트 학술대회
2023년 6월
16. “인공지능 기반 메모리 예비자원 분석 효울 예측 기법”
박석민, 권예린, 양다빈, 배준영
제 23회 한국 테스트 학술대회
2022년 6월
15. “FIB 공격 검출이 가능한 복제 불가능 보안 회로”
배준영, 오준석, 이영우
제 23회 한국 테스트 학술대회
2022년 6월
14. “웨이퍼 및 패키지 양산환경을 고려한 High Speed Test Access Port 기반의 Design-for-Testability 방법론”
이영우, 한동관, 한재웅, 김민석
Samsung Foundry Symposium
2020년 9월
13. “하드웨어 오버헤드를 최소화한 block cipher 기반의 invasive 공격 검출회로”
이영우, 이영광, 문민호, 강성호
제20회 한국 테스트 학술대회
2019년 6월
12. “메모리 테스트를 위한 Workload 기반의 BOST 시스템 구조”
문민호, 이영우, 이영광, 강성호
제20회 한국 테스트 학술대회
2019년 6월
11. “BOST 시스템에서 출력 핀 수를 줄이기 위한 고장 데이터 압축 방법”
이영광, 이영우, 문민호, 강성호
제20회 한국 테스트 학술대회
2019년 6월
10. “테스트 출력 압축이 가능한 TSV 기반 차세대 반도체 테스트 구조”
이영우, 서성열, 조기원, 문민호, 최인혁, 강성호
제19회 한국 테스트 학술대회
2018년 6월
09. “마치 알고리즘 테스트를 위한 Instruction 기반 메모리 BOST 시스템”
서성열, 문민호, 조기원, 이영우, 최인혁, 강성호
제19회 한국 테스트 학술대회
2018년 6월
08. “Tri-State 검출 회로를 이용한 TSV 기반 차세대 반도체 테스트 구조”
이영우, 서성열, 조기원, 최인혁, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
2017년 6월
07. “Instruction-based Built Off Self-Test (BOST)를 이용한 차세대 메모리 테스트 병렬성 향상 및 핀 감소 기법”
서성열, 조기원, 이영우, 최인혁, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
2017년 6월
06. “Instruction-based Built Off Self-Test Methodology for Memory Test”
서성열, 조기원, 이영우, 강성호
제24회 한국 반도체 학술대회
2017년 2월
05. “TSV간 저항성 단락 불량 검출 모델링 및 분석”
이영우, 정민호, 박기현, 강성호
제17회 한국 테스트 학술대회
2016년 6월
04. “양산 단계에서 요구되는 SPI ROM 버전 업데이트 자동화에 관한 연구”
이영우, 오강훈, 강성호
제16회 한국 테스트 학술대회
2015년 9월
03. “캐패시터 응용회로에서 디바이스의 대기전류 측정을 위한 최적화된 대기시간과 디바이스 인터페이스 응용회로에 관한 연구”
이영우, 오강훈, 강성호
제15회 한국 테스트 학술대회
2014년 6월 (우수논문상 수상)
02. “A Study on Testing Method for Specified Transactions between the Device with Built-in SPI Port and the SPI Slave Device”
이영우, 오강훈
제14회 한국 테스트 학술대회
2013년 6월 (우수논문상 수상)
01. “Source Synchronized Clock and Data Capture for Testing Jittered Device Data”
이영우, 오강훈
제13회 한국 테스트 학술대회
2012년 6월
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