Patents

국제등록특허 (International Registration Patents)

03. "SECURITY CIRCUIT FOR DETECTING PHYSICAL ATTACK ON SYSTEM SEMICONDUCTOR"

      Inventors: 이영우, 배준영

      등록번호 : US Patent 12,093,434, 등록일자 : 2024.09.17

02. "ON-CHIP SECURITY CIRCUIT FOR DETECTING AND PROTECTING AGAINST INVASIVE ATTACKS"

      Inventors: 강성호, 이영우 

      등록번호 : US Patent Pending 16/877100, 등록일자 : 2022.07.12 

01. "CIRCUIT FOR TESTING AND ANALYZING TSV AND METHOD OF TESTING THE SAME"

      Inventors: 강성호, 이영우

      등록번호 : US Patent 10,401,422, 등록일자 : 2019.09.03

국내등록특허 (Domestic Registration Patents)

13. "차량용 자율주행 센서의 실차 기반 테스트 장치 및 보정 방법"

      Inventors : 이영우

      등록번호 : 10-2825389, 등록일자 : 2025.06.23

12. "시스템 온 칩을 위한 멀티-사이트 테스트 장치 및 방법"

      Inventors : 이영우, 김현빈

      등록번호 : 10-2820657, 등록일자 : 2025.06.10

11. "병렬성 향상을 위한 테스트 핀 수 절감 장치 및 방법"

      Inventors : 이영우, 신재환

      등록번호 : 10-2813632, 등록일자 : 2025.05.23

10. "고속 메모리에 대하여 선형 테스트를 수행하기 위한 자동화 테스트 기기 및 그 동작 방법"

      Inventors : 이영우, 박석민

      등록번호 : 10-2743456, 등록일자 : 2024.12.11

09. "태양광 열화 가속 평가 장치 및 방법"

      Inventors : 이영우

      등록번호 : 10-2741345, 등록일자 : 2024.12.09

08. "시스템 반도체에 대한 물리적 공격을 검출하기 위한 보안 회로"

      Inventors : 이영우, 배준영

      등록번호 : 10-2668039, 등록일자 : 2024.05.17

07. "침투 공격 검출이 가능한 초소형 온칩 보안 회로 장치 및 그 방법"

      Inventors : 이영우, 양다빈

      등록번호 : 10-2640110, 등록일자 : 2024.02.20

06. "메모리 반도체 최적의 예비자원 수 예측 방법 및 장치"

      Inventors : 이영우, 박석민, 양다빈, 권예린, 배준영

      등록번호 : 10-2525664, 등록일자 : 2023.10.19

05. "집속 이온빔 공격 검출 방법 및 이를 위한 보안회로"

      Inventors : 이영우, 배준영, 오준석

      등록번호 : 10-2593608, 등록일자 : 2023.04.20

04. "침투 공격에 대해 검출 및 보호가 가능한 온칩 보안 회로"

      Inventors : 강성호, 이영우

      등록번호 : 10-2245773, 등록일자 : 2020.04.22

03. "TSV 병렬 테스트 장치 및 방법"

      Inventors : 강성호, 이영우

      등록번호 : 10-2075018, 등록일자 : 2020.02.03

02. "반도체 테스트 프로그램 디버깅과 관련된 테스트 항목들의 우선순위를 결정하기 위한 장치 및 방법"

      Inventors : 강성호, 이영우

      등록번호 : 10-1785889, 등록일자 : 2017.09.29

01. "TSV테스트 및 분석 회로 및 테스트 방법"

      Inventors : 강성호, 이영우

      등록번호 : 10-1772808, 등록일자 : 2017.08.23