服務項目：

1. 原子力顯微鏡 (atomic force microscope)

2. 側向力顯微鏡 (lateral force microscope)

3. Phase imaging

4. 磁力顯微鏡 (magnetic force microscope)

5. Electric field microscope (電性量測)

6. 掃描穿隧式顯微鏡 (scanning tunneling microscope)

7. Conductive AFM (電性量測)

8. 掃描式熱梯度顯微鏡 (scanning thermal microscope)

9. Electrochemical SPM (電化學量測)

10. Kelvin probe microscopy (surface potential)

11. 掃描電容顯微鏡 (scanning capacitance microscope)

12. Force modulation microscope

13. 壓電力顯微鏡 (Piezoresponse force microscope)

14. 具備 nanolithography 軟體，可進行奈米尺寸電氧化、壓痕、圖佈......等圖形化實驗。

委託服務僅接受原子力顯微鏡 (atomic force microscope)、側向力顯微鏡 (lateral force microscope) 與 Phase imaging 量測。