์๊ฐ(Etching)์ ๋ฐ๋์ฒด ๊ณต์ ์์ ํจํด์ ๋ฐ๋ผ ํน์ ์์ญ์ ์ฌ๋ฃ(๊ธ์, ์ฐํ๋ง, ์ค๋ฆฌ์ฝ ๋ฑ)๋ฅผ ์ ํ์ ์ผ๋ก ์ ๊ฑฐํ๋ ๊ณต์ ์ ๋๋ค. ํฌํ ๋ฆฌ์๊ทธ๋ํผ๋ก ํ์ฑ๋ ๊ฐ๊ด๋ง(Photoresist)์ ๋ง์คํฌ ์ผ์, ํ์ํ ๊ตฌ์กฐ๋ง ๋จ๊ธฐ๊ณ ๋๋จธ์ง ์ฌ๋ฃ๋ฅผ ์ ๊ฑฐํจ์ผ๋ก์จ, ํ๋ก์ ๋ฌผ๋ฆฌ์ ํํ๋ฅผ ์ ๋ฐํ๊ฒ ๊ฐ๊ณตํ๋ ํต์ฌ ๋จ๊ณ์ ๋๋ค.
๐น ์ ์: ํํ ์ฉ์ก(์ก์)์ ์ด์ฉํ์ฌ ์ฌ๋ฃ๋ฅผ ๋ น์ฌ ์ ๊ฑฐํ๋ ๋ฐฉ์
๐น ํน์ง
๋ฑ๋ฐฉ์ฑ(Isotropic) ์ฑํฅ์ด ๊ฐํจ โ ์์ผ๋ก๋ ํผ์ ธ์ ์ ๊ฑฐ๋จ
๊ณต์ ์ฅ๋น ๋จ์, ์ ๋น์ฉ, ๋๋ฉด์ ์ฒ๋ฆฌ ์ ๋ฆฌ
์๊ฐ ์๋ ๋น ๋ฆ
๋ง์คํฌ๋ก PR ๋๋ SiN, SiOโ ์ฌ์ฉ ๊ฐ๋ฅ
๐น ์ ์ฉ ์์
KOH/TMAH๋ฅผ ์ด์ฉํ ์ค๋ฆฌ์ฝ ํธ๋ ์น ๊ฐ๊ณต, HโPOโ๋ฅผ ์ด์ฉํ ์๋ฃจ๋ฏธ๋ ์๊ฐ, HF๋ฅผ ์ด์ฉํ SiOโ ์ ๊ฑฐ
๐น ๋จ์
ํจํด ์ ๋ฐ๋ ๋ฎ์ (Undercut ํ์), ๋ฏธ์ธ ๊ตฌ์กฐ ๊ตฌํ์๋ ๋ถ์ ํฉ, ์ก์ฒด ์ทจ๊ธ์ผ๋ก ๊ท ์ผ๋ ๊ด๋ฆฌ ์ด๋ ค์
๐น ์ ์: ํ๋ผ์ฆ๋ง ์ํ์ ๋ฐ์์ฑ ๊ฐ์ค๋ฅผ ์ด์ฉํด ํ๋ฉด์์ ํํ์ /๋ฌผ๋ฆฌ์ ์ผ๋ก ์๊ฐํ๋ ๋ฐฉ์
๐น ์ ํ
RIE (Reactive Ion Etching): ํํ + ๋ฌผ๋ฆฌ์ ์ถฉ๊ฒฉ ๋ณํ
ICP (Inductively Coupled Plasma): ๊ณ ์ด์จ ๋ฐ๋, ๊น๊ณ ์์ง์ ์ธ ์๊ฐ ๊ฐ๋ฅ
PE (Plasma Etching): ํํ ๋ฐ์ ์ค์ฌ
๐น ํน์ง
์ด๋ฐฉ์ฑ(Anisotropic) ์ ์ด ์ฉ์ด โ ์์ง ์๊ฐ ๊ฐ๋ฅ
๋๋ ธ๋ฏธํฐ ์์ค์ ํจํด ๊ตฌํ
์๊ฐ ๊ณต์ ์ ์ ๋ฐ๋์ ์ ํ๋น ์กฐ์ ๊ฐ๋ฅ
์ฅ๋น ๋น์ฉ์ ๋์ง๋ง ํ์ด์๋ ๊ณต์ ํ์
๐น ์ ์ฉ ์์
FinFET, DRAM ํธ๋ ์น, VIA ํ ๋ฑ ๋ฏธ์ธ ํจํด ํ์ฑ. SiOโ/SiN/Poly-Si ๋ฑ์ ์๊ฐ, HAR(Hight Aspect Ratio) ๊ตฌ์กฐ
๐น ๋จ์
๊ณต์ ์กฐ๊ฑด ๋ฏผ๊ฐ โ Recipe ์ต์ ํ ํ์, ์ฅ๋น ๋น์ฉ, ์ ์ง๋น์ฉ์ด ํผ, ์ด์จ ์์ ๊ฐ๋ฅ์ฑ ์กด์ฌ (damage to underlying layers)
์ต์ vs. ๊ฑด์์๊ฐ ๋น๊ตย