Electron Device Lab 

電子デバイス研究室

 ELECTRON DEVICE LABORATORY 

(福井大学 電子デバイス研究室)

JOEL T. ASUBAR LABORATORY 

(アスバル・ジョエル 研究室)

Our group works on state-of-the-art wide bandgap semiconductor materials and devices with new, exciting and groundbreaking performance.

我々の研究室は、新しい刺激的な性能を備えた最先端のワイドバンドギャップ半導体材料およびデバイスに関する研究に取り組んでいます。


Our research interest includes but not restricted to: 


我々の主な研究対象は下記ですが、これらに限定はしていません:




Graduation 2024

 Hokuriku Oyobutsuri (Applied Physics Conference,  Hokuriku) 2023

ICNS 2023

 IEEE IMFEDK 2023

Prof. Sarkar (Indian Institute of Tech and Nagoya Univ.) visit

福大未来キャンパス2023 (Univ. Fukui Future Campus 2023)

Open Campus 2023

 AWAD 2023

 WOCSDICE-EXMATEC 2023

April 22, 2023- IEEE R10 Talk

 March 2023- IOP Outstanding Reviewer Award 2022 and Reviewer of the Year Award

 Graduation 2023

The Teacher of the Year  2022 Awarding Ceremony

ACROSS Innovation Forum of Power Energy Professional Development Program (PEP) 2022

 IEEE IMFEDK 2022 (2022 Nov. 28-30, Kyoto, Japan

14th Topical Workshop on Heterostructure Microelectronics (2022  Aug. 29- Sept. 1, Hiroshima, Japan)

 April 2022 - IOP Outstanding Reviewer Award 2021

JSAP Spring meeting 2022

Graduation 2022

IEEE IMFEDK 2021

RECENT NEWS !!!

石黒真輝君は、2024年IEEE名古屋支部国際会議研究発表賞を受賞しました。おめでとうございます!

我々の研究「ZrO2/AlGaN/GaN構造の電気特性に及ぼす極薄AlGaN再成長層の影響」がPhysica Status Solidi A に掲載されました。

バラトフ ・アリ  (D3) 寺井 優 (B4)は、学長表彰を受賞しました。おめでとうございます!

角田 健成 (B4) は、優秀学生表彰を受賞しました。おめでとうございます!

前田祥吾君 (M2) は、工業会奨励賞を受賞しました。おめでとうございます!

バラトフ ・アリ  (D3), 石黒 真輝 (M2), 前田 祥吾  (M2),  根津 透生 (M2), タジュディン ・ヌル・シャズワニ・ビンティ・アフマド (B4), 角田 健成 (B4), 寺井 優 (B4) 卒業いたしました.おめでとうございます!

我々の研究「リセスゲートと極薄再成長 AlGaN バリアを備えたノーマリオフ GaN ベース MIS-HEMT の性能向上」がJournal of Semiconductor and Scienceに掲載されました。

Joel先生は、2023年のIEEE Transactions on Electron Device の「Golden List of Reviewers」に含まれています!!!

Joel先生は、2023年のIEEE Electron Device Lettersの「Golden List of Reviewers」に含まれています!!!

寺井優君 (B4) , 角田健成君 (B4) ,  が令和5年度応用物理学会 北陸・信越支部学術講演会で発表しました.

根津 透生 (M2)が第14回窒化物半導体国際会議 (ICNS14) で"Effect of ultra-thin AlGaN regrown layer on electrical properties of ZrO2/AlGaN/GaN structures "の発表で、"Outstanding Poster Award "を受賞した。

根津 透生 (M2)が第14回窒化物半導体国際会議 (ICNS14) で の国際学会で発表しました。


Nur Syazwani (B4)、五十嵐貴寛 (M1) 、石黒真輝 (M2)、山本あき勇先生(招待講演)がIEEE International Meeting for Electron Devices Kansai 2023 (IMFEDK 2023) の国際学会で発表しました

Biplab Sarkar教授(インド工科大学、名古屋大学)が当研究室で講義を行った。

我々の研究「AlGaN/GaN MIS-HEMTの性能を向上させるための低熱バジェットV/Al/Mo/Auオーミックコンタクト」がJapanese Journal of Applied Physics Rapid Communicationsに掲載されました。

福井大学未来キャンパスに参加しました。

Joel先生は、IOP(Institute of Physics: 英国物理学会)の出版社(IOP Publishing)から、IOP trusted reviewer statusを受賞しました。この賞は、IOPが出版している学術誌の論文査読者の中から、高評価の査読者に授与されます。

福井大学オープンキャンパス2023に電気電子講座の代表として当研究室が出展しました。

前田君 (M2)とバラトフ・アリ君 (D3) AWAD 2023 の国際学会で発表しました。

Joel先生はが、 WOCSDICE - EXMATEC 2023の国際学会で発表しました.

 Joel先生はが、IEEE R10 Webinar Seriesでの招待講演「IEEE R10 talk」を行いました。

 Joel先生はが、Applied Physics ExpressとJapanese Journal of Applied Physicsの編集委員になりました。

Joel先生は、英国物理学会(IOP)の「優秀論文査読者賞2022」及び「Reviewer of the Year」を受賞しました。この賞は、IOP Publishingが発行したジャーナルにおいて、同出版局のエディターらによって選ばれた2022年の上位優秀論文査読者を表彰するものであり、Joel先生がIOP PublishingのApplied Physics Express誌の2022年の論文に対して行った査読について、査読の高いクオリティ、量、スケジュール管理の点でエディターらに高く評価された。

浦野駿 (M2), David Lau Bi Da (B4), 五十嵐貴寛 (B4), 関山騎士 (B4) 山崎峻平 (B4) 卒業いたしました.おめでとうございます!

Joel先生は「優秀教員」賞を受賞しました。

Joel先生は、2022年のIEEE Transactions on Electron Device の「Golden List of Reviewers」に含まれています!!!

Joel先生は、2022年のIEEE Electron Device Lettersの「Golden List of Reviewers」に含まれています!!!


バラトフ・アリ君 (D2) が東京で開催されたパワー・エネルギー・プロフェッショナル育成プログラム【PEP】のACROSSイノベーションフォーラムで発表しました。


関山君 (B4) , デビッド-君 (B4) ,  前田君 (M1)がIEEE International Meeting for Electron Devices Kansai 2022 (IMFEDK 2022) の国際学会で発表しました.

名古屋大学のノーベル賞受賞者天野先生のグループ、Indian Institute of TechnologyのSarkar-先生のグループ、名工大の分島先生のグループ、関西学院大学の葛原先生のグループと共同で、IEEE Journal of the Electron Devices Society にGaNベースのMOS-HEMTの小信号モデリングに関する3本目の論文を発表しました

Applied Physics Express に「ex-situ 再成長 AlGaN 層の挿入による Al2O3-AlGaN MIS 構造の界面準位の減少の証拠」が掲載されました。

バラトフ・アリ君 (D2) が広島で開催された14th Topical Workshop on Heterostructure Microelectronics (TWHM 2022)で発表しました。

 共同研究者のスウェーデンSweGaN社のJr-Tai Chen博士が、イタリア・ベニスで開催されたGaN Marathon 2022で招待講演を行いました。

Joel先生は、英国物理学会(IOP)の「優秀論文査読者賞2021」を受賞しました。この賞は、IOP Publishingが発行したジャーナルにおいて、同出版局のエディターらによって選ばれた2021年の上位優秀論文査読者を表彰するものであり、Joel先生がIOP PublishingのApplied Physics Express誌の2021年の論文に対して行った査読について、査読の高いクオリティ、量、スケジュール管理の点でエディターらに高く評価された。

根津透生  (M1), David Lau Bi Da (B4), 五十嵐貴寛 (B4), 関山騎士 (B4), 山崎峻平 (B4) が電子デバイス研究室に加わりました。

M1の浦野君が2022年度第69回の応用物理学会春季学術講演会で発表しました

永瀨樹 (M2), 石黒真輝 (B4), 前田祥吾 (B4), Muhammad Faris Syahmi Bin Sharif (B4) 卒業いたしました.おめでとうございます!

Joel先生は、2021年のIEEE Transactions on Electron Device の「Golden List of Reviewers」に含まれています!!!

Joel先生は、2021年のIEEE Electron Device Lettersの「Golden List of Reviewers」に含まれています!!!

北海道大学の橋詰先生、Slovak Academy of ScienceのGregusova-先生と熊本大学の谷田部先生との共同での GaN系デバイスの表面界面に関する招待チュートリアル論文がJournal of Applied Physics で2021 年TOP 10 MOST READ TUTORIALS and METHODSの一つになっています!!!

名古屋大学のノーベル賞受賞者天野先生のグループ、Indian Institute of TechnologyのSarkar-先生のグループ、名工大の分島先生のグループ、関西学院大学の葛原先生のグループと共同で、IEEE Transactions on Electron Device にGaNベースのMOS-HEMTの小信号モデリングに関する最近の研究を発表しました

B4の前田君と石黒君とM1の浦野君がIEEE International Meeting for Electron Devices Kansai 2021 (IMFEDK 2021) の国際学会で発表しました。

 熊本大学の谷田部先生との共同研究でPhysica A誌に発表したヒトの体重揺らぎに関する論文が現在Physica A (impact factor 3.263) のMost Downloaded Articlesになっています!!!J

 Joel先生は、第21回関西コロキウムElectron Devices Workshopで招待講演を行いました。

IEEE Electron Device Letters(インパクトファクター: 4.50)に掲載された、AlGaNバリア層再成を駆使した最先端ノーマリーオフGaN系MIS-HEMTに関する研究がIEEE EDS関西のトップの1つの論文・発表に選ばれました

Joel先生はIEEEシニアメンバーに昇格しました。

熊本大学の谷田部先生と共同で、Physica A に"Ornstein–Uhlenbeck process in a human body weight fluctuation"という論文を発表しました。

名古屋大学の天野先生のグループ、Indian Institute of TechnologyのSarkar-先生のグループ、名工大の分島先生のグループ、関西学院大学の葛原先生のグループと共同で、IEEE Journal of Electron Device SocietyにAlGaN/GaN MOS-HEMTに関する最近の研究を発表しました

熊本大学の谷田部先生のグループとのmist-Al2O3/AlGaN/GaN MIS-HEMTの共同研究が、英国の権威あるCompound Semiconductor Magazine (53ページ) という半導体雑誌に紹介されました!!!

AlGaNバリア層再成を駆使した最先端ノーマリーオフGaN系MIS-HEMTに関する研究が、IEEE Electron Device Letters の"MOST POPULAR DOCUMENTS"の一つになっています!!! 

北海道大学の橋詰先生、Slovak Academy of ScienceのGregusova-先生と熊本大学の谷田部先生との共同でのGaN系デバイスの表面界面に関する招待チュートリアル論文がJournal of Applied Physics でTOP 5 MOST READ PAPERの一つになっています!!!

GaN系デバイスの表面界面に関する招待チュートリアル論文がJournal of Applied Physics に掲載されました。

熊本大学の谷田部先生のグループとの共同研究でApplied Physics Express誌に発表したmist-Al2O3/AlGaN/GaN MIS-HEMTに関する論文が現在APEXでMOST READ PAPERになっています!!!

熊本大学の谷田部先生のグループと共同で、Applied Physics Expressにmist-Al2O3/AlGaN/GaN MIS-HEMTに関する最近の研究を発表しました。

B4の浦野君が電気学会北陸支部から優秀学生賞表彰を受賞しました。

 永瀬君(M1)の発表「Improved Interfaces of high-K ZrO2 and AlGaN via ex-situ MOVPE regrowth」がIEEE IMFEDK 2020 Poster Awardを受賞しました。

B4の浦野君とM1の永瀬君がIEEE IMFEDK 2020の国際学会で発表しました。

M2のBaratov君、 Lowさんと 神谷君が電子情報通信学会 電子デバイス研究会で発表しました。

M1の永瀬君が国際学会(SSDM 2020)で発表しました。

p-GaNゲート構造の設計に関する研究がJapanese Journal of Applied Physicsに掲載されました。

AlGaNバリア層再成を駆使した最先端ノーマリーオフGaN系MIS-HEMTに関する研究が、IEEE Electron Device Letters の"MOST POPULAR DOCUMENTS"の一つになっています!!! 

AlGaNバリア層再成を駆使した最先端ノーマリーオフGaN系MIS-HEMTに関する研究がIEEE Electron Device Lettersに掲載されました。

縦型ノーマリーオフAlGaN / GaN MIS-HEMTに関する研究がPhysica Status Solidiに掲載されました。

M1のBaratov君と Lowさんが2020年応用物理学春季学術講演会で発表しました。

Joel先生は「The Teacher of the Year」賞を受賞しました。



 SELECTED RECENT WORKS

Journal of Applied Physics 129 (2021) 121102

Our invited tutorial paper about electronic states in GaN-based transistors in collaboration with, Prof. Yatabe of Kumamoto University, Prof. Dagmar Gregusova of Slovak Academy of Science, and Prof. Tamotsu Hashizume of Hokkaido University and Nagoya University, has been published in Journal of Applied Physics.

Applied Physics Express 14 (2021) 031004

In collaboration with, Prof. Yatabe's lab in Kumamoto University, we have demonstrated for the first time high-performance AlGaN/GaN MIS-HEMTs with insulator deposited by non-vacuum, eco-friendly and cost-effective mist-CVD

Enhancement-Mode AlGaN/GaN MIS-HEMTs With High VTH and High IDmax Using Recessed-Structure With Regrown AlGaN Barrier

(First demonstration of GaN-based HEMT with VTH = +5V and drain current more that 400 mA/mm)

(Included in IEEE Electron Device Letters "POPULAR DOCUMENTS" (April-June 2020, April 2021)

Electron Device Letters 41 (2020) 693

Using Yamamoto regrowth technology developed by our group, we have achieved record combination of threshold voltage and drain current.

 

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