所有装置

引張速度 0.1~1000 mm/min

試験温度 室温

耐荷重 10 kN, 500 N

引張り試験以外にも圧縮試験が可能

エアチャックを用いることで

滑りやすい試料も延伸できる

引張速度 1~100 mm/min

試験温度 室温~200℃

耐荷重 500 N (定荷重も測定可能)

持ち運び可能な小型引張試験機

IRやラマン分光装置に組み込むことで

延伸過程におけるその場測定も可能

引張速度 0.1~100 mm/min

試験温度 室温~200℃

縦方向および横方向のチャックを

独立に動かすことで同時二軸や

逐次二軸延伸測定が可能

複屈折やIRスペクトルの

同時測定をすることができる

圧子速度 0.2~90 mm/min

試験温度 室温

圧子サイズ 曲率半径0.5,1.5,5.0 mm

両端固定および両端非固定の

三点曲げ試験が可能

ビデオカメラ撮影によって

局所ひずみ変化も測定可

引張速度 0.1~100 mm/min

延伸過程における試料断面積を

リアルタイムで測定し、

荷重にフィードバックすることで

真応力一定のクリープ試験が可能

引張温度 -180~300℃

周波数 0.01~300 Hz

試料の粘弾性を測定することが可能

温度及び周波数を広範囲で変化できる

引張、圧縮、曲げ、せん断モードで測定可能

アクロエッジ社と共同開発した

小型疲労試験機。

50Nまでの引張モードにて、一定ひずみ

もしくは一定応力条件で

疲労試験が可能。

波形データは自動で記録し、

その場測定も適用可能

最大荷重100Nz

最大周波数100Hzまでの条件にて、

疲労試験やクリープ試験が可能

露光時間 2 s

試料の赤外吸収スペクトルを測定し

試料の構造状態を評価することができる

延伸過程におけるその場測定を行い

分子配向状態の変化をリアルタイムで評価可能

レーザー3種類(532, 632, 640 nm)

自作装置のため、試料設置部分が広く

引張試験機やホットステージを組み込み

延伸過程や溶融・結晶化過程における

分子振動状態をその場測定できる

主に分子配向や分子鎖の応力負荷状態を

測定することができる

Ar+レーザー(532 nm)を用いて

試料のHvおよびVv散乱を測定し

球晶など数μmスケールの構造が評価可

フィルムなどの固体試料と液体試料の

発光、励起、吸収スペクトルを測定可能

溶液試料の量子収率も測定可能

画質 300万画素

倍率 20~120倍

変形過程における試験片形状変化を測定

画像解析技術を用いて局所ひずみ変化を

その場測定することも可能

数μmスケールの構造を評価

ホットステージを組み込むことで

結晶化過程における球晶成長を観察可能

設定温度 室温~270℃

設定圧力 0~40 MPa

約20 μmから2 mmまで

さまざまな厚みの試料を調製できる

急冷条件を変化させることで

結晶度や球晶サイズが異なる

試料を調製できる

設定温度 25~250℃

ポリマーブレンドやナノコンポジットの

調製に使用

設定温度 -60~600℃

試料の昇温・降温過程における熱変化を

測定することで、融点や結晶化温度など

熱的特性を評価することができる

結晶度や結晶成長速度も評価可能

設定温度 35~100℃

放射照度 300~800 nm

キセノンランプ照射によって試料の

光劣化を促進させ、短時間で

光劣化試料を作成することが可能

空気中およびエタノール中の質量から

アルキメデス法により密度を算出できる

得られた密度から体積結晶度を算出可能