PATENTS
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'11
“NONDESTRUCTIVE ANALYSIS FOR PERIODIC STRUCTURE”
김영동, 정진모, 한승호
미국 특허 출원 12/756,980, 2011 년 02 월 03 일
'10
“주기 구조물의 비파괴 검사 방법”
김영동, 정진모, 한승호
국내 특허 출원 제 10-2010-0009735 호, 2010 년 02 월 02 일
“NONDESTRUCTIVE ANALYSIS FOR PERIODIC STRUCTURE”
김영동, 정진모, 한승호
대만 특허 출원 99108585, 2010 년03 월 23 일
“NONDESTRUCTIVE ANALYSIS FOR PERIODIC STRUCTURE”
김영동, 정진모, 한승호
유럽 특허 출원 10 158 886.1, 2010 년 03 월 31 일
“NONDESTRUCTIVE ANALYSIS FOR PERIODIC STRUCTURE”
김영동, 정진모, 한승호
중국 특허 출원 201010158813.5, 2010 년 04 월 23 일
“NONDESTRUCTIVE ANALYSIS FOR PERIODIC STRUCTURE”
김영동, 정진모, 한승호
일본 특허 출원 2010-151482, 2010 년 07 월 01 일
'09
“그린 함수 방법을 이용한 주기 구조물 분석 방법”
김영동, 한승호, 정진모
국내 특허 출원 제 10-2009-0070308 호, 2009 년 07 월 30 일
“투명 전극 적층 구조 및 이를 포함하는 표시 장치, 터치 스크린 및 박막 태양 전지”
김영동, 박규창
국내 특허 출원 제 10-2009-0089970 호, 2009 년 09 월 23 일
'08
“METHOD FOR DETERMINING PHYSICAL PROPERTIES OF A MULTILAYERED PERIODIC STRUCTURE”
김영동, 정진모, 한승호
대만 특허 출원 97111443 , 2008 년 03 월26 일
“METHOD FOR DETERMINIMG PHYSICAL PROPERTIES OF A MULTILAYERED PERIODIC STRUCTURE”
김영동, 정진모, 한승호
미국 특허 출원 12/070,717, 2008 년 12월 04 일
'07
“주기 구조물의 비파괴 검사 방법”
김영동, 한승호, 정진모
국내 특허 출원 제 10-2007-0052806 호, 2007 년 05 월 30 일
“그린함수 방법을 이용한 주기 구조물의 비파괴검사 방법”
김영동, 한승호, 정진모
국내 특허 출원 제 10-2007-0077351 호, 2007 년 08 월 01 일