TBPS01 近場探頭 近場探棒

 Tekbox TBPS01 EMC近場探頭

Tekbox TBPS01 EMC近場探頭 概述

在H20，H10，H5和E5的磁場（H）和電場（E）探測的輻射EMC預一致性測試。探針被用在電磁輻射的源的近場。

它們用於定位和識別的電子組件的構件中潛在的干擾源。

探頭充當類似於寬帶天線，從元器件，PCB走線，住房開口或縫隙，並從可發射RF任何其他地方拿起輻射排放。探針通常是連接到頻譜分析儀。掃描探針在一個印刷電路板組件的表面或殼體快速識別哪個發射電磁輻射的位置。通過改變向探針具有較小尺寸，排放的發起，可以進一步縮小。

附加應用是射頻抗擾度試驗由饋送RF信號到探針和輻射成潛在易感電路部分：此外，探針可以在修理或調試的字段所使用的RF信號的非接觸式測量來跟踪在RF信號鏈中的問題水平。還有一個應用是RF構建模塊，如調製器或振盪器無創測量。頻率，相位噪聲和頻譜成分可以與低噪聲前置放大器一起進行測量。

所述Tekbox TBWA2 20分貝和Tekbox TBWA2 40分貝  寬帶放大器相連的EMC近場探頭和頻譜分析儀之間，以增加測量的動態範圍。