Activities

Nobu-Hisa Kaneko, PhD

(Could be found as Nobu Kaneko, N.-H. Kaneko, N. Kaneko, Nobuhisa Kaneko, and  金子 晋久)

Prime Senior Researcher

Global Research and Development Center for Business by Quantum-AI Technology (G-QuAT)

National Metrology Institute of Japan (NMIJ)

AIST

EDUCATION

1997 Ph.D. (physics) Tohoku University, Sendai, Japan

1992 M.S. (physics), Tohoku University, Sendai, Japan

1990 B.S. (physics), Tohoku University, Sendai, Japan

CONTACT INFORMATION

E-mail: nobuhisa.kaneko[at sign]aist.go.jp

Global Research and Development Center for Business by Quantum-AI Technology (G-QuAT)

National Metrology Institute of Japan (NMIJ)

National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST)

NMIJ/AIST Tsukuba Central 3-1

1-1-1 Umezono, Tsukuba, Ibaraki 305-8563, Japan


日本語:https://www.aist.go.jp/aist_j/guidemap/tsukuba/center/tsukuba_map_c.html

English:https://www.aist.go.jp/aist_e/guidemap/tsukuba/center/tsukuba_map_c.html

日本語:https://www.aist.go.jp/Portals/0/resource_images/aist_j/guidemap/tsukuba/center/from_tsukuba_c_tx_bus20230320.pdf

English:https://www.aist.go.jp/aist_e/guidemap/tsukuba/shuttlebus.html

https://www.kantetsu.co.jp/img/news/2022/22070102_bus/info.pdf

https://www.kantetsu.co.jp/bus/highway_tsukuba_tokyo.html

Research and collaboration

(in Japanese: アズビル株式会社, アルファ・エレクトロニクス株式会社, 一般財団法人 日本品質保証機構, エイミック株式会社, オリックス・レンテック株式会社, 株式会社エーディーシー, 株式会社サンジェム, 株式会社 テクトロニクス&フルーク フルーク社, 株式会社日本ファインケム, 株式会社村田製作所, キーサイト・テクノロジー・インターナショナル合同会社, キーテクノ株式会社, 菊水電子工業株式会社, KOA株式会社, 長野県工業技術総合センター, 日本電気計器検定所(JEMIC), 日置電機株式会社, Measurements International Japan株式会社, 横河電機株式会社


PROFESSIONAL EXPERIENCES



PUBLICATIONS (International Journals, full papers only)

PUBLICATIONS (Japanese Journals (selected from recent activity))

Invited Talks (Selected)

In Japanese: 量子電気標準の歴史と展望, 金子 晋久, 計測研究会 電気学会九州支部 佐賀大学理工学部8号館5階国際環境セミナ室, 2023/11/09

In Japanese: 量子電気計測と標準, 電気学会茨城支所講演会および見学会, 産業技術総合研究所, 2022/11/16

In Japanese: 電流の定義改定, 金子 晋久, 2020年度精密工学会春季大会シンポジウム, 大会シンポジウム「 国際単位系(SI)の定義改定 」, 東京農工大学 小金井キャンパス, 2020/03/17

In Japanese: 量子電気標準と量子センシングへの展望, 金子 晋久, 理化学研究所・産業技術総合研究所 第2回合同シンポジウム, イイノカンファレンスセンター RoomA, 2020/01/14

In Japanese: 第 9 回半導体/超伝導体量子効果と量子情報の夏期研修会, サンバレー那須, 2019/09/05

In Japanese: 改定SIと電気標準の進展, 金子 晋久, 精密計測を元に科学技術に変革をもたらす回路技術調査専門委員会, 電気学会, 産業技術総合研究所 第3事業所 3-1棟6階第3会議室, 2019/06/20

In Japanese: アンペアの定義改定がもたらす新しい量子電気標準, 金子 晋久, 第16回AMO討論会, 電気通信大学 東3号館3階301 マルチメディアホール, 2019/06/15

In Japanese: 科学技術の発展とSIの改定, 金子 晋久, 第221回 継電器・コンタクトテクノロジ研究会, 東京 機械振興会館, 2019/03/15

In Japanese: 量子電気標準の現状とSI改定による効用, 金子 晋久, 電気学会, 東京都, 2017/06/29

AWARDS

In Japanese: 産業総合研究所計量標準センター(NMIJ)研究・業務貢献賞(ESW2021の企画・開催・運営に対して),  2022年1月12日

in Japanese: 経済産業省産業技術環境局長表彰(計量制度運営等貢献者表彰), 2021年11月1日

In Japanese: 第8回ものづくり日本大賞東北経済産業局長賞(製品・技術開発部門)“ストレスフリー形標準抵抗器の開発”座間 松雄, 須磨 秀之, 熊谷 誠弥, 佐藤 充(アルファ・エレクトロニクス株式会社), 金子 晋久, 大江 武彦(産業技術総合研究所), 阿部 隆行(株式会社村田製作所), 2020年3月18日.

In Japanese: 第41回(2019年度)応用物理学会優秀論文賞, 2019年9月18日.

In Japanese: 平成30 年度 理事長賞(産業技術総合研究所)新たなSI定義実現への卓越した貢献, 藤井賢一, 山田善郎, 金子晋久, 2019年4月1日.

In Japanese: 第22回超伝導科学技術賞(一般社団法人未踏科学技術協会)超伝導技術を利用した熱力学温度測定技術の開発, 浦野千春, 前澤正明, 山澤一彰, 金子晋久, 2018年4月16日

In Japanese: 産業総合研究所計量標準センター(NMIJ)研究・業務貢献賞(ESW2017の企画・開催・運営に対して),  2018年1月7日

In Japanese: 産業総合研究所計量標準センター(NMIJ)研究・業務貢献賞(SI基本4単位定義改定における学術的および広報活動の貢献に対して),  2019年1月7日

In Japanese: 産業総合研究所計量標準センター(NMIJ)研究・業務貢献賞(SI常設展示スペース開設に対して),  2016年1月4日

In Japanese: 第13回日本熱電学会学術講演会優秀講演賞, 高温超伝導体を用いたゼーベック係数の絶対測定法の開発, 天谷康孝, 島崎毅, 河江達也, 藤木弘之, 山本淳, 金子晋久, 2016年9月7日)

In Japanese: 第47回市村学術賞貢献賞, 世界最高性能小型標準抵抗器の開発と計量トレーサビリティの革新, 金子晋久, 2015年4月23日.

In Japanese: 産業総合研究所計量標準センター(NMIJ)研究・業務貢献賞(2011年の不測の電力削減要請に対応した節電プランワーキンググループの活動に対して),  2012年1月4日

PUBLICATIONS ( Conference Digests/Summary Papers/Proceedings, under construction)

PATENTS

Japanese Patent Application No. 2019-105439, PCT/JP2020/012166 (WIPO) Parametric Amplifier with Impurity States in Oxide thin-films

Japanese Patent Application No.2018-121874, US-2020-0003814-A1 (2020/01/02, US), DE102019209131A1 (2020/01/12, Germany), 201910536017.1 (China) Deterioration degree Diagnosis Device and Deterioration Degree Diagnosis Method for Electrical Connection Portion

Japanese Unexamined Patent Publication No. 2018-017687 (2018/02/01) Electric Current Measurement Device

Japanese Patent Application No.2015-560977, PCT/JP2015/052898 (WIPO) Direct Current Power Meter and Calibration Method of Current Sensors

Japanese Patent Application No. 2015-532740, PCT/JP2014/065040, WO2015/025586 (2015/02/26), US-2016-0202196-A1 (2016/07/14, US) Measurement Method and Device of Thermoelectrical Properties

Japanese Unexamined Patent Publication No. 2016-138776 (2016/08/04) Electrical Reference Module and Remote Calibration Method of Electric and Electrical Devices

Japanese Unexamined Patent Publication No. 2011-243766 (2011/12/01) Manufacturing Method of High Stability Resistance Elements and High Stability Resistors

Japanese Unexamined Patent Publication No. 2011-226819 (2011/11/10) Electric Current Comparator

Japanese Unexamined Patent Publication No. 2011-179818 (2011/09/15) Voltage Divider for Calibration of Resistance Ratio Measurement Device and Calibration Method

Japanese Unexamined Patent Publication No. 2007-207988 (2007/08/16) Voltage Divider and Voltage Source

Japanese Unexamined Patent Publication No. 2005-219996 (2005/08/18) Single Crystal Growth Machine


[産業財産権(特許権) 国内特許 出願]

1.       特願2004--032164、池田 伸一(10)、白川 直樹(10)、永崎 (10)金子 晋久(10)他、単結晶育成装置、産業技術総合研究所他、2004/02/09

2.       特願2006--024766金子 晋久(100)、分圧器および電圧発生装置、産業技術総合研究所、2006/02/01

3.       特願2010--041225、坂本 泰彦(30)金子 晋久(30)、山澤 一彰(30)、丹波 (10)、抵抗比測定器校正用抵抗分圧器装置及び該装置を用いた校正方法、産業技術総合研究所、2010/02/26

4.       特願2010--094251、浦野 千春(25)、前澤 正明(20)金子 晋久(10)、丸山 道隆(10)、山田 隆宏(5)、大江 武彦(5)他、電流比較器、産業技術総合研究所他、2010/04/15

5.       特願2010--114994金子 晋久(30)、坂本 泰彦(10)、大江 武彦(10)他、高安定抵抗素体の製造方法および高安定抵抗器、産業技術総合研究所他、2010/05/19

6.       特願2014--021203金子 晋久(25)、堂前 篤志(25) 他、直流電力量計および電流センサー校正方法、産業技術総合研究所他、2014/02/06

7.       特願2015--532740(特願2013--172318 2013/08/22)、天谷 康孝(20)、藤木 弘之(20)金子 晋久(20)、山本 (20)、阿子島 めぐみ(20)、熱物性測定方法及び熱物性測定装置、産業技術総合研究所、2014/06/06

8.       特願2015--013004、丸山 道隆(17)、浦野 千春(17)金子 晋久(16)他、基準源モジュール、電気・電子機器、遠隔校正方法、産業技術総合研究所他、2015/01/27

9.       特願2015--560977(特願2014--021203 2014/02/06)、金子 晋久(25)、堂前 篤志(25)他、直流電力量計および電流センサー校正方法、産業技術総合研究所他、2015/02/03

10.     特願2016--150277金子 晋久(25)、堂前 篤志(25)他、電流測定装置、産業技術総合研究所他、2016/07/29

11.     特願2018--121874、福山 康弘(25)金子 晋久(25)他、電気的接続部の劣化度合診断装置、及び、劣化度合診断方法、産業技術総合研究所他、2018/06/27

12.     特願2019--105439、中村 秀司(55)金子 晋久(15)、岡崎 雄馬(15)、高田 真太郎(15)、パラメトリック増幅器、産業技術総合研究所、2019/06/05

13.     特願2021--524679(特願2019--105439 2019/06/05)、中村 秀司(55)金子 晋久(15)、岡崎 雄馬(15)、高田 真太郎(15)、パラメトリック増幅器、産業技術総合研究所、2020/03/19

14.     特願2022--111455、堂前 篤志(25)金子 晋久(25) 他、シャント抵抗を用いた電流検出装置、産業技術総合研究所他、2022/07/11

15.     特願2022--139820、丸山 道隆(40)金子 晋久(30)、浦野 千春(30)、交流電圧波形生成装置、産業技術総合研究所、2022/09/02

16.     特願2022--191172、天谷 康孝(20)、大川 顕次郎(20)、島崎 (20)、坂本 憲彦(20)金子 晋久(20)、ペルチェ係数算出方法、プログラム及び測定システム、産業技術総合研究所、2022/11/30

 

[産業財産権(特許権) 国外特許 出願]

1.       PCT/JP2014/065040WIPO)、天谷 康孝(20)、藤木 弘之(20)金子 晋久(20)、山本 (20)、阿子島 めぐみ(20)、熱物性測定方法及び熱物性測定装置、産業技術総合研究所、2014/06/06

2.       14/912482(アメリカ)、天谷 康孝(20)、藤木 弘之(20)金子 晋久(20)、山本 (20)、阿子島 めぐみ(20)、熱物性測定方法及び熱物性測定装置、産業技術総合研究所、2014/06/06

3.       PCT/JP2015/052898WIPO)、金子 晋久(25)、堂前 篤志(25) 他、直流電力量計および電流センサー校正方法、産業技術総合研究所他、2015/02/03

4.       16/434302(アメリカ)、福山 康弘(25)金子 晋久(25) 他、電気的接続部の劣化度合診断装置、及び、劣化度合診断方法、産業技術総合研究所他、2019/06/07

5.       201910536017.1(中国)、福山 康弘(25)金子 晋久(25) 他、電気的接続部の劣化度合診断装置、及び、劣化度合診断方法、産業技術総合研究所他、2019/06/20

6.       102019209131.8(ドイツ)、福山 康弘(25)金子 晋久(25) 他、電気的接続部の劣化度合診断装置、及び、劣化度合診断方法、産業技術総合研究所他、2019/06/25

7.       PCT/JP2020/012166WIPO)、中村 秀司(55)金子 晋久(15)、岡崎 雄馬(15)、高田 真太郎(15)、パラメトリック増幅器、産業技術総合研究所、2020/03/19


Technology Transfer

MEDIA, OUTREACH

Misc

Career Path after 2003 at AIST (in Japanese)


Some award-related pictures are shown.

Some memorable pictures are shown.

You can find relevant and old information at other public database sites, e.g., researchmap (below).

EXPERTISE and INTERESTS