使用機器

透過型電子顕微鏡（TEM）

JEOL, JEM-1400

走査型電子顕微鏡（SEM）

HITACHI, S-3400N

ウルトラミクロトーム

Leica, Ultracut S

急速凍結装置

GmbH, EMCPC-M

山口正視博士とマリンワークジャパンとの共同開発。購入のご相談も受け付けています。https://www.mwj.co.jp/product_service/1747/

臨界点乾燥装置

Leica EM CPD030

真空蒸着装置

HITACHI E-102

※機器利用のみの場合は、千葉大学西千葉地区共用機器センターの設備をご利用いただけます。

透過型電子顕微鏡（TEM）H-7650 https://cupid.cac.chiba-u.jp/detail/10031

電界放射型透過電子顕微鏡（FE-TEM）https://cupid.cac.chiba-u.jp/detail/10013

走査型電子顕微鏡（SEM） JSM-6510A https://cupid.cac.chiba-u.jp/detail/10005

電界放射型走査型電子顕微鏡（FE-SEM）SU3800SE https://cupid.cac.chiba-u.jp/detail/10295

Page updated

Google Sites

Report abuse