使用機器

透過型電子顕微鏡（TEM）

JEOL, JEM-1400 

走査型電子顕微鏡（SEM）

HITACHI, S-3400N

ウルトラミクロトーム

Leica, Ultracut S 

急速凍結装置 

GmbH, EMCPC-M 

山口正視博士とマリンワークジャパンとの共同開発。購入のご相談も受け付けています。https://www.mwj.co.jp/product_service/1747/

カーボンコーター

VC-100

真空蒸着装置

HITACHI E-102

t-ブタノール

凍結乾燥装置

VFD-21S 

臨界点乾燥装置

Leica EM CPD030