光学顕微鏡画像と電子顕微鏡画像を組み合わせ、同一試料・同一領域における分子局在と超微細構造を対応づけて解析する、
CLEM（Correlative Light and Electron Microscopy）解析環境の整備を進めています。
現在、試料作製条件、観察フロー、位置合わせ方法の検討を行っています。解析をご希望の場合は、サンプルの種類や目的に応じて実施可能性を含めてご相談ください。