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대면적 분광 이미징이 결합된 고체 기반 양자 광원 특성 평가 방법 및 장치

이재웅, 임승재

국내출원 10-0143426 (2022)/ PCT 출원 KR2023/015679

핀홀 스캐닝을 이용한 현미경 분광 분석 장치 및 방법

이재웅

국내출원 10-0143427 (2022)

이차원 반도체 양자점 어레이의 제조 방법

서준기, 이재웅, 여정인

국내출원 10-0118525 (2022)/ PCT 출원 KR2023/008945

이차원 물질의 도메인 구조 측정 시스템 및 그 방법

정현식, 이재웅

국내출원 10-0144459 (2016), 국내등록 10-1762384 (2017)

 라만 신호와 위상변화를 동시에 측정하는 시스템 및 그 방법

정현식, 이재웅

국내출원 10-0104373 (2016), 국내등록 10-1878909 (2018)

이차원 물질의 격자방향 조절이 가능한 전사 시스템 및 그 방법

정현식, 김민정, 이재웅

국내출원 10-0089350 (2016), 국내등록 10-1801968 (2017)

이차원 물질의 두께 측정 시스템 및 방법

정현식, 이재웅

국내출원 10-1762384 (2016), 국내등록 10-1899067 (2018)