Ce projet a pour objectif la mesure des coefficients de Fresnel en réflexion et transmission de diélectriques. Le but final est -avec la mesure de ces coefficients- de pouvoir caractériser complètement le diélectrique, ce qui permet par la suite de pouvoir effectuer des images de synthèse fidèles à la réalité. Ceci a notamment un intérêt lors de la production de vitres pour immeubles, pour prédire l'évolution de la luminosité au cours de la journée par exemple, ou lors de prototypage numérique pour anticiper les différents reflets. Nous avons donc créé SAMM (Système d'Acquisition des Matrices de Mueller).

Et le prototype finalement produit !

Toute l'équipe remercie Mr. Philippe Porral et Mr. Thomas Muller pour cet intéressant sujet, ansi que les experts : Philippe Faul, Jérémy Marchais, Michaël Trovalet, pour leur aide précieuse lors de la fabrication du dispositif, et l'équipe encadrante des Mines ParisTech du projet mécatronique pour ces trois semaines riches en émotions, apprentissage et découvertes.