JEM-ARM200F(原子分解能透過電子顕微鏡)
薄膜化した試料に対し、サブミクロン〜ナノスケールでの組織観察・結晶構造解析・元素分析が可能です。
基本仕様
本体 JEOL JEM-ARM200F(HR仕様)
電子銃:冷陰極電界放出型
使用加速電圧:80kV, 200kV
球面収差補正走査透過電子像(Cs-corrected STEM)
CCDカメラ
サイドマウントカメラ:Gatan Orius SC200D 2048x2048 pixel、pixel size 7.4 x 7.4 µm
ボトムマウントカメラ:Gatan US1000XP 2048x2048 pixel、pixel size 14.0 x 14.0 µm
エネルギー分散X線分光装置(EDS)
検出器:JEOL JED-2300 (EX-24280M1G5T), 100mm2 SDD (エネルギー分解能 133eV、スーパーUltra-thin window、検出可能元素 B~U)
EDSソフトウェア:JEOL Analysis Station
取り出し角:21.9°
電子エネルギー損失分光装置(EELS)
分光器:Gatan Quantum ER (Energy resolution: 0.10eV)
CCD検出器:GIF 2048 x 2048 pixel
ソフトウェア:Gatan Digital Micrograph, v.2.30, 32-bit
電子線トモグラフィーシステム
ソフトウェア:システムインフロンティア TEMography
試料ホルダー
JEOL 標準ホルダー
JEOL トモグラフィー用ホルダー
JEOL 2軸傾斜ホルダー
JEOL 分析用2軸傾斜ホルダー
Gatan 分析用冷却2軸傾斜ホルダー
設置環境
アクティブ磁場キャンセラー
水冷式空調パネル