Dynamic Random Access Memory (DRAM)

• Cadence virtuoso simulation을 활용한 DRAM  core 연구

• Sense amplifier 설계

Gate stack development

Ferroelectric film

• HZO의 강유전성을 활용해 다양한 device에 적용

Charge trap film

•  Al2O3, ZrO2 등 다양한 oxide 물질을 기반으로한 charge trap layer(CTL)을 활용하여 다양한 device에 적용

AlGaN/GaN HEMT Electrical Characteristic

• HEMT 공정 및 신뢰성 테스트

AlGaN/GaN HEMT Reliability

• HEMT 공정 및 신뢰성 테스트

• Bias Temperature Instability(BTI)

AlGaN/GaN HEMT Trapping Effect

• HEMT 트랩 영향 분석

• Current collapse 및 interface trap(Dit)

Self-heating effect 

GaN HEMT