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表面分析解説記事
表面分析解説記事
解説記事
分担、『異物の分析技術と試料の前処理、結果の解釈』技術情報協会（2024）
分担、『医薬品添加剤における開発および製剤設計・評価の新展開』シーエムシー出版（2022）
機器分析の解説(第11回) XPS、"ペトロテック“（2019）
XPS, TOF-SIMSによる表面・界面イメージング、”日本接着学会誌”（2019）
表面分析法AES,XPS,TOF-SIMSの最近の進歩と腐食分析への応用、”材料と環境”（2015）
X線光電子分光法、”色材協会誌”（2014）
オージェ電子分光法、”色材協会誌”（2013）
飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)による製剤断面の分析、”製剤機械技術研究会誌”（2012）
X線光電子分光法による界面の分析、“接着の技術”（2012）
クラスターイオンの表面分析への応用、”Journal of Surface Analysis”（2007）
X線光電子分光法、”色材協会誌”（2006）
X線光電子分光法による材料分析・解析における最新技術、“日本材料科学会誌”（2005）
新しい表面分析法、“ぶんせき”（2003）
電子分光におけるスペクトル強度と幅の理論的解釈、"Journal of Surface Analysis"（2002）
紫外光電子分光法（UPS)、逆光電子分光法（IPES）、“表面技術”（1994）
分担、『各種分析手法におけるサンプリング、試料調整法と前処理技術』技術情報協会（1994）
オージェ電子分光法、”材料と環境”（1992）
電子分光法による表面・界面の解析、“静電気学会誌”（1991）
学会報告、その他
The 22nd International Vacuum Congress(IVC-22)国際会議参加報告、”Journal of Surface Analysis”（2022）
特集「実用表面分析の最近の進展」企画趣旨、"表面と真空"（2021）
第44回IUVSTAワークショップ報告 クラスター・イオンビームによるスパッタリングと二次イオン放出、"Journal of Surface Analysis"（2007）
論文等リスト
論文等リスト
国立情報研究所 学術情報ナビゲータ（日本語文献）：CiNii
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ORCID（英文論文）:ORCID
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