超高分解能スピン・角度分解光電子分光装置

　スピン・角度分解光電子分光（spin- and angle-resolved photoemission spectroscopy: SARPES）は、固体に光を照射し、光電効果によって飛び出した電子のエネルギー、放出角度及びスピンを測定することで、 固体の電子状態（バンド構造とスピン偏極度）を直接決定することができる実験手法です。特に銅酸化物高温超伝導体の発見以後、エネルギー分解能などにおいて著しい発展を遂げてきました。 近年では、時間分解測定を行うことなどが可能になりつつあります。当研究室では、モット検出器とScienta Omicron R4000電子分析器を搭載した超分解能スピン・角度分解光電子分光装置を運用しており、様々な機能性物質において電子状態の直接観測を行います。励起光光源は希ガス放電管（He, Xe, Ne, Ar, Kr）を使うことができます。

パルスレーザー堆積装置

　パルスレーザー堆積法（pulsed laser deposition: PLD法）は、高出力のパルスレーザーを、 真空中や特定のガス雰囲気中においてターゲットと呼ばれる原材料に照射することでプラズマ化させ、 基盤上に堆積させることで薄膜を作製する手法です。当研究室では、エキシマレーザーを用いたパルスレーザー堆積装置を有し、 様々な機能性を示す遷移金属酸化物の薄膜などを作製しています。

X線光電子分光装置 

　X線光電子分光（x-ray photoemission spectroscopy: XPS）は、真空中で固体表面にX線を照射し、光電効果によって飛び出した電子のエネルギーを測定して、 固体の電子状態（内殻構造や価電子帯構造）を直接決定する実験手法です。X線源はAl Kα (1486.6 eV), Mg Kα (1253.6 eV)になります。組成分析や価数評価、化学結合状態分析などを行うことができるため、ESCA (Electron Spectroscopy of Chemical Analysis) とも呼ばれます。電子分析器としてはScienta SES100電子分析器が搭載されています。