特許(63件2022.1)

出願番号 発明者 発明の名称 出願人/権利者 出願日 文献番号

  1. 特願2019-161468 天谷賢治 他 状態量推定方法、状態量推定装置、及びプログラム 国立大学法人東京工業大学 2019/9/4 特開2021-039036

  2. 特願2020-535268 天谷賢治 他 き裂の推定装置、き裂の推定方法、き裂の検査方法および故障診断方法 三菱電機株式会社 2020/1/22 特許6789452

  3. 特願2018-218355 天谷賢治 他 荷重計測装置および荷重計測方法 国立大学法人東京工業大学 2018/11/21 特開2020-085592

  4. 特願2018-192925 天谷賢治 他 犠牲陽極の発生電流推定方法及び装置 日本防蝕工業株式会社 2018/10/11 特開2020-060487

  5. 特願2020-516327 天谷賢治 他 腐食環境モニタリング方法及び腐食環境モニタリングシステムを備えた機器 株式会社荏原製作所 2019/4/22 再表2019/208462

  6. 特願2018-087421 天谷賢治 他 解析パラメータの推定方法 荏原環境プラント株式会社 2018/4/27 特開2019-192151

  7. 特願2018-087489 天谷賢治 他 燃焼炉の燃焼状態の推定方法、燃焼炉の燃焼制御方法、および燃焼炉の燃焼制御装置 荏原環境プラント株式会社 2018/4/27 特開2019-190802

  8. 特願2017-182848 天谷賢治 他 腐食予測システム及び腐食予測方法 株式会社荏原製作所 2017/9/22 特開2019-056681

  9. 特願2017-168186 天谷賢治 他 腐食判定システム及び腐食判定方法 株式会社荏原製作所 2017/9/1 特開2019-045281

  10. 特願2017-168323 天谷賢治 他 防食システムおよび防食方法 株式会社荏原製作所 2017/9/1 特開2019-044230

  11. 特願2017-162501 天谷賢治 他 すき間腐食検出器を具備するポンプ、及び当該ポンプの運転管理方法 株式会社荏原製作所 2017/8/25 特開2019-039828

  12. 特願2017-153014 天谷賢治 他 ポンプ 株式会社荏原製作所 2017/8/8 特開2019-031707

  13. 特願2018-111035 天谷賢治 他 水面下構造物用の電位測定治具及びこれを用いた電位測定方法並びに発生電流の検証方法 日本防蝕工業株式会社 2018/6/11 特開2019-002073

  14. 特願2017-027699 天谷賢治 他 角度測定装置、及び、角度測定方法 株式会社カツラ・オプト・システムズ 2017/2/17 特開2018-132475

  15. 特願2016-184471 天谷賢治 他 ブレーキ圧力分布計測方法およびブレーキ圧力分布計測装置 国立大学法人東京工業大学 2016/9/21 特開2018-048907

  16. 特願2017-509415 天谷賢治 他 すきま腐食検知器を組み込んだ構造物 株式会社荏原製作所 2016/2/29 再表2016/158146

  17. 特願2014-235936 天谷賢治 他 ブレーキ圧力分布計測方法及びブレーキ圧力分布計測装置 曙ブレーキ工業株式会社 2014/11/20 特開2016-098900

  18. 特願2013-031723 天谷賢治 他 金属製構造物の電気防食診断方法及び診断装置 国立大学法人東京工業大学 2013/2/21 特開2014-162928

  19. 特願2012-197775 天谷賢治 他 金属製構造物の電気防食モニタリング方法及び装置 国立大学法人東京工業大学 2012/9/7 特開2014-051713

  20. 特願2012-036115 天谷賢治 他 超音波画像構成装置、超音波画像構成方法、及び超音波画像構成処理プログラム 国立大学法人東京工業大学 2012/2/22 特開2013-169389

  21. 特願2012-283451 天谷賢治 他 荷重推定方法 日産自動車株式会社 2012/12/26 特開2013-057691

  22. 特願2010-026405 天谷賢治 他 光学ひずみゲージ、光学的ひずみ測定装置及び光学的ひずみ測定方法 国立大学法人東京工業大学 2010/2/9 特開2011-163896

  23. 特願2009-286205 天谷賢治 他 通電加熱方法および装置、ならびにこれを備えたプレス機械 国立大学法人東京工業大学 2009/12/17 特開2011-125897

  24. 特願2009-245344 天谷賢治 他 椎間板変性の評価装置及びプログラム 学校法人北里研究所 2009/10/26 特開2011-087844

  25. 特願2009-234706 天谷賢治 他 疑似スペクトル発生装置 国立大学法人東京工業大学 2009/10/9 特開2011-081274

  26. 特願2009-233686 天谷賢治 他 屈折率分布の測定装置及び測定方法 国立大学法人東京工業大学 2009/10/7 特開2011-080875

  27. 特願2009-229476 天谷賢治 他 金属体の断面形状測定装置 国立大学法人東京工業大学 2009/10/1 特開2011-075492

  28. 特願2009-030184 天谷賢治 他 超音波診断装置を用いた生体内物体の動態解析方法 国立大学法人東京工業大学 2009/2/12 特開2010-184040

  29. 特願2008-281499 天谷賢治 他 導電性の液体中における電極の電流測定方法及び電流測定装置 国立大学法人東京工業大学 2008/10/31 特開2010-106338

  30. 特願2008-227390 天谷賢治 他 荷重推定方法 日産自動車株式会社 2008/9/4 特開2010-060462

  31. 特願2008-214768 天谷賢治 他 導電性の液体中における犠牲陽極の電流測定方法及び電流測定装置 国立大学法人東京工業大学 2008/8/25 特開2010-047814

  32. 特願2008-214049 天谷賢治 他 表面電流測定装置及び表面電流測定方法 国立大学法人東京工業大学 2008/8/22 特開2010-047811

  33. 特願2008-154344 天谷賢治 他 塗装された金属面の塗装状態の定量的な評価方法及びシステム 国立大学法人東京工業大学 2008/6/12 特開2009-300228

  34. 特願2007-298478 天谷賢治 他 測定対象物測定方法および装置 日産自動車株式会社 2007/11/16 特開2009-122050

  35. 特願2009-542529 天谷賢治 他 収差測定方法及びその装置 国立大学法人東京工業大学 2008/11/6 再表2009/066599

  36. 特願2009-047774 天谷賢治 他 光位相分布測定システム 国立大学法人東京工業大学 2009/3/2 特開2009-115827

  37. 特願2007-198603 天谷賢治 他 空間フィルタ処理を行う撮像方法及びその撮像装置 国立大学法人東京工業大学 2007/7/31 特開2009-038439

  38. 特願2007-198868 天谷賢治 他 合焦方法及び合焦システム 国立大学法人東京工業大学 2007/7/31 特開2009-036824

  39. 特願2007-197726 天谷賢治 他 磁気記録再生装置、磁気記録方法、及び磁気再生方法 国立大学法人東京工業大学 2007/7/30 特開2009-032365

  40. 特願2007-195065 天谷賢治 他 画像解析方法 国立大学法人東京工業大学 2007/7/26 特開2009-031109

  41. 特願2006-184277 天谷賢治 他 電解処理における膜厚測定方法及び膜厚測定装置 国立大学法人東京工業大学 2006/7/4 特開2008-014699

  42. 特願2006-097698 天谷賢治 他 磁界分布計測装置 国立大学法人東京工業大学 2006/3/31 特開2007-271465

  43. 特願2006-100521 天谷賢治 他 分極曲線測定方法及び電解処理装置 株式会社荏原製作所 2006/3/31 特開2007-270320

  44. 特願2006-033404 天谷賢治 他 電位差計測装置および電位差計測方法 国立大学法人東京工業大学 2006/2/10 特開2007-212326

  45. 特願2005-330559 天谷賢治 他 近接場光顕微鏡、近接場光イメージング方法、近接場光イメージング装置、近接場光イメージング法をコンピュータに実行させるプログラム、記録媒体および高密度記録情報メディア読み取り装置 国立大学法人東京工業大学 2005/11/15 特開2007-139466

  46. 特願2005-229250 天谷賢治 他 蛍光画像検出方法、蛍光画像検出基板、蛍光画像検出器、プログラムおよび記録媒体 国立大学法人東京工業大学 2005/8/8 特開2007-046933

  47. 特願2005-045064 天谷賢治 他 光位相分布測定方法及び光位相分布測定システム 国立大学法人東京工業大学 2005/2/22 特開2006-234389

  48. 特願2006-543078 天谷賢治 他 高解像度パターン転写方法 国立大学法人東京工業大学 2005/10/14 再表2006/046475

  49. 特願2004-193329 天谷賢治 他 境界要素解析方法、及び境界要素解析プログラム 株式会社荏原製作所 2004/6/30 特開2006-018393

  50. 特願2004-162637 天谷賢治 他 モーションキャプチャーシステム及びモーションキャプチャー方法 財団法人理工学振興会 2004/5/31 特開2005-345161

  51. 特願2004-151375 天谷賢治 他 光位相分布測定方法 国立大学法人東京工業大学 2004/5/21 特開2005-331440

  52. 特願2005-515541 天谷賢治 他 実環境分極測定装置及びそれを用いた実環境分極抵抗・分極曲線測定方法 国立大学法人東京工業大学 2004/3/24 再表2005/050186

  53. 特願2003-125521 天谷賢治 他 数値解析装置及び方法 財団法人理工学振興会 2003/4/30 特開2004-334301

  54. 特願2003-124911 天谷賢治 他 画像表示装置 財団法人理工学振興会 2003/4/30 特開2004-334266

  55. 特願2001-014486 天谷賢治 他 空気浄化装置及びその試験システム 高砂熱学工業株式会社 2001/1/23 特開2002-214115

  56. 特願平11-330159 天谷賢治 他 めっき解析方法 株式会社荏原製作所 1999/11/19 特開2001-152397

  57. 特願平11-082623 天谷賢治 他 腐食・防食解析方法 株式会社荏原製作所 1999/3/25 特開2000-275206

  58. 特願平10-342389 天谷賢治 他 クラスタリング及びボロノイ分割を利用したニューラル           ネットワークを用いた穀類粒判別装置 株式会社ケット科学研究所 1998/11/16 特開2000-146847

  59. 特願平10-279191 天谷賢治 他 腐食・防食解析方法 株式会社荏原製作所 1998/9/30 特開2000-111510

  60. 特願平10-291392 天谷賢治 他 ボロノイ分割を利用したニューラルネットワークを用い           た穀類粒判別装置 株式会社ケット科学研究所 1998/9/29 特開2000-105192

  61. 特願平09-323110 天谷賢治 他 電気防食場のシミュレーション解析方法及び装置 大阪瓦斯株式会社 1997/11/25 特開平11-160271

  62. 特願平09-207186 天谷賢治 他 腐食・防食解析方法 株式会社荏原製作所 1997/7/16 特開平11-037967

  63. 特願平06-130456 天谷賢治 他 膜厚計 株式会社ケット科学研究所 1994/6/13 特開平07-332916