原子力顯微鏡
原子力顯微鏡
原子力顯微鏡 (AFM) 是一種具備奈米級高解析度的掃描探針顯微鏡。它透過極細微的探針與樣品表面間的原子作用力來感測地形起伏。相較於傳統光學顯微鏡,AFM 不受光學繞射極限影響,能觀測三維表面的微觀結構。
S-3000H 具備更大的樣品室空間與更優異的解析表現。它利用電子束掃描樣品表面,能捕捉極其細微的形貌與結構特徵。對於您進行的銀、金薄膜蒸鍍,S-3000H 不僅能以高倍率觀察膜層的結晶均勻度,其強大的景深優勢更適合檢查鍍膜在複雜基板上的覆蓋情況。若配備 EDS 分析儀,還能同步確認金屬成分的純度與分佈。