Microscopio Electrónico de Barrido y Sistema de Microanálisis Elemental por Dispersión de Rayos X (SEM-EDX)

El Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo (FE-SEM) ZEISS Gemini SEM 360 cuenta con una resolución de 0,7 nm y puede trabajar con una presión variable hasta 500 Pa, permitiendo generar imágenes de alta resolución bajo distintas condiciones de trabajo. De manera adicional, el FE-SEM está equipado con un sistema de microanálisis por dispersión de energía de rayos X (EDS) que permite realizar cuantificación elemental espacial (mapas de rayos X característicos).