๐ก [KR] ์ถ์๋ฒํธ 10-2025-0089527
ย ย ย ๋จ์ผ ์นด๋ฉ๋ผ ๊ธฐ๋ฐ ๋๋ก 3์ฐจ์ ์์น ์ถ์ ๋ฐฉ๋ฒ (์กฐ์์ค, ํฉ์๋น, ์ด์ฒญ์, ๋์ ๊ฒฝ, ํ์ฑ์ฐ, ๊นํ์)
๐ฟ [KR] ์ํํธ์จ์ด ์ ์๊ถ ๋ฑ๋ก๋ฒํธ: C-2025-017677ย
ย ย ย ์ํ ์ฃผํ ์ ๋ํฅ๋ณด๋ ํ์ง ์์คํ
ย ย (์กฐ์์ค, ํฉ์๋น, ๊นํ๋ฏผ, ์์งํจ)
๐ฟ [KR] ์ํํธ์จ์ด ์ ์๊ถ ๋ฑ๋ก๋ฒํธ: C-2025-017676 ย
ย ย ย ๊ฐ์ ์์คํ
์ ์ํ ๋จ์ผ ์นด๋ฉ๋ผ ๊ธฐ๋ฐ 3์ฐจ์ ๋๋ก ๊ถค์ ๋ณต์ ์์คํ
(์กฐ์์ค, ํฉ์๋น, ๋์ ๊ฒฝ, ํ์ฑ์ฐ, ๊นํ์, ์ด์ฒญ์)
๐ฟ [KR] ์ํํธ์จ์ด ๋ฑ๋ก๋ฒํธ: 11-21222-1112
ย ย ย 3์ฐจ์ ๋ณต์ ๋ฐ ๊ฐ์ฒด ๊ฒ์ถ ๊ธฐ๋ฐ ๊ฑด๋ฌผ ๊ท ์ด ํ์ง ์ํํธ์จ์ด (์กฐ์์ค, ๊นํ๊ทผ)
๐ก [KR] ๋ฑ๋ก๋ฒํธ (10-2688026) | ์ถ์๋ฒํธ 10-2022-0187877
ย ย ย 2D ์ด๋ฏธ์ง๋ก๋ถํฐ ๊ฒ์ถ๋ ๊ฑด๋ฌผ์ ๊ท ์ด์ 3D ๋ณต์ ๊ณต๊ฐ์์ ๋ํ๋ด๊ธฐ ์ํ ์ ์ ์ฅ์น ๋ฐ ๊ทธ ๋์ ๋ฐฉ๋ฒ (์กฐ์์ค, ๊นํ๊ทผ, ์์์, ์ด์น์ค)
๐ก [KR] ๋ฑ๋ก๋ฒํธ 10-2625-6560000 | ์ถ์๋ฒํธ 10-2022-0035865
ย ย ย ๋น๋๋ฉด ์ํต ํ๋ซํผ ๋ง์ถคํ ์์ ํฉ์ฑ ๋ฐฉ๋ฒ (์กฐ์์ค, ํฉ์ข
์, ์ค๊ฒฝ์ค, ๊นํ๊ทผ, ํฉ์๋น)
๐ก [US] Approved, 2021, Application No. 17/515,950
ย ย ย METHOD AND SYSTEM FOR DEFECT INSPECTION BASED ON DEEP LEARNING (Tae-Hyun Kim, Hye-Rin Kim, Yeong-Jun Cho)
๐ก [KR] ์ถ์๋ฒํธ 10-2020-0175771
ย ย ย ๋ฅ๋ฌ๋ ๊ธฐ๋ฐ ์ ํ ๋ถ๋ ๊ฒ์ถ๋ฐฉ๋ฒ ๋ฐ ์์คํ
(๊นํํ, ๊นํ๋ฆฐ, ์กฐ์์ค)
๐ก [KR] ์ถ์ ๋ฒํธ 10-2018-0130126
ย ย ย ์นด๋ฉ๋ผ ๋คํธ์ํฌ ํ ํด๋ก์ง ์ถ์ ๋ฐ ์ฌ๋ ์ฌ์๋ณ ๋ฐฉ๋ฒ (์ค๊ตญ์ง, ์กฐ์์ค)
๐ก [US] Approved, 2014.
ย ย ย POLYP DETECTION APPARATUS AND METHOD OF OPERATING THE SAME (Sung-Hyun Kim, Kuk-Jin Yoon, Seung-Hwan Bae,
ย ย ย Yeong-Jun Cho, Tae-Kyung Kim, Ji-Woon Jung)
๐ก [KR] ์ถ์ ๋ฒํธ 10-2013-0130334
ย ย ย ์ฉ์ข
๊ฒ์ถ ์ฅ์น ๋ฐ ๊ทธ ๋์๋ฐฉ๋ฒ (๋ฐฐ์นํ, ์กฐ์์ค, ๊น์ฑํ, ๊นํ๊ฒฝ, ์ ์ง์ด, ์ค๊ตญ์ง)