利用光子調制反射,熱調制反射與光激螢光光譜量測技術來研究半導體材料 與元件之光學特性(1/2)(2/2) Optical characterizati

計畫名稱：利用光子調制反射,熱調制反射與光激螢光光譜量測技術來研究半導體材料 與元件之光學特性(1/2)(2/2) Optical characterization of semiconductor optoelectronics materials and device strucrures using photoreflectance (PR), thermoreflectance (TR) and photoluminescence (PL) techniques (1/2)(2/2) 

委託單位：科技部(MOST) 

研究期間：2019/8/1 至 2021/7/31