Información sobre TOF-SIMS y preparación de muestras:

• Servicio de Espectrometría de Masas de la GIA-CNEA

• Introducción a la técnica de TOF-SIMS y sus aplicaciones

• Manipulación y almacenamiento de muestras para ser analizadas mediante TOF-SIMS

• Capacidades del TOF.SIMS.V (IONTOF, Alemania) instalado en CNEA

• Ejemplos de aplicaciones de TOF-SIMS 

• Libro TOF-SIMS: Material Analysis by Mass Spectrometry

Ejemplos de casos científicos:

Importante: Los siguientes ejemplos son sólo orientativos de la estructura y la información que se espera tengan los resúmenes de los casos científicos, no de las temáticas específicas. La técnica de TOF-SIMS puede utilizarse para analizar una amplia variedad de muestras sólidas (cerámicos, polímeros, semiconductores, tejidos, polvos, nanopartículas, films, muestras biológicas, etc.)

• Distribución espacial de aditivos mejoradores del sinterizado en electrolitos de (La,Sr)(Ga,Mg)O3-d

• Topografía de sensores CMOS comerciales

• Distribución de isótopos de carbono en el meteorito Campo del Cielo

Consultas sobre la técnica de TOF-SIMS: tof.sims.cab@gmail.com