I Taller Argentino
de Espectrometría de Masas de Iones Secundarios
6-9 Mayo 2025, S. C. de Bariloche, Argentina
6-9 Mayo 2025, S. C. de Bariloche, Argentina
Título: Distribución espacial de aditivos mejoradores del sinterizado en electrolitos de (La,Sr)(Ga,Mg)O3-d
Describa el problema científico que busca resolver:
El problema científico que se quiere resolver es conocer el efecto del agregado de aditivos mejoradores del sinterizado (como Zn, V y Fe) en electrolitos de (La,Sr)(Ga,Mg)O3-d para celdas de combustible de óxido sólido fabricados por el método de tape casting. Las muestras a analizar son tapes cerámicos de 6 mm x 6 mm x 150-180 um. Se realizó una caracterización preliminar con las técnicas de Microscopía Electrónica de Barrido (SEM), Espectroscopía Dispersiva en Energía (EDS) y Difracción de Rayos X (XRD) para conocer la microestructura y las fases presentes en las muestras.
Describa qué tipo de información espera obtener con la técnica de TOF-SIMS:
Se espera obtener la distribución espacial tanto de los aditivos (Zn, V, Fe) agregados como de los cationes constituyentes de la muestra (La+, Sr+, Ga+, y Mg+).
Explique qué ventajas cree que podría ofrecer la técnica de TOF-SIMS para resolver el problema científico descrito más arriba:
La ventaja que ofrece la técnica de TOF-SIMS es que, al tratarse de una técnica superficial con alta resolución espacial, permitiría detectar e identificar la segregación de cationes en la superficie y en bordes de grano, lo que es dificultoso con otras técnicas como EDS-SEM.