TEM 樣品規範

說明：為確保儀器能持續正常運作，請必遵守下列的規範，如有違反，管裡者得隨時取消您的使用權限。

1. 因每個材料電顯樣品的製備方式皆依個案而完全不同，為避免實驗樣品在製備過程中可能造成之科學及法律責任問題，本實驗室不提供樣品代製備服務。

2. 實驗過程中，強力電子束可能會對樣品造成傷害並且會有積碳效應，此為電顯系統實驗天生之限制。請使用者先自行了解並評估是否進行實驗。

3. 本實驗室擁有對所有樣品之判定檢測以及是否接受申請的權利。 

4. 請將待測樣品，自行製備在標準TEM grid 上(巨觀外型為直徑3 mm的圓形薄片)上。

5. 樣品應具有適當、足夠的機械強度，以避免在進出TEM、或在操作過程中，發生剝落、碎裂的狀況。若有此類情形， 使用者(無論自行操作或委託者)將被吊銷使用權限，且必須賠償機台損失。

6. 樣品應儘量事先以其它低階顯微設備（如光學顯微鏡、掃描式電子顯微鏡)，初步判定是否具有足供進行TEM檢測的樣品區域，以避免上機後徒勞無功。

7. 下列樣品，因容易對TEM系統造成損害，不予受理：

a.  真空中具揮發性或在電子束照射下易分解、釋出氣體分子的樣品。

b.   磁性或易被電磁透鏡吸引的粉末型式樣品或塊材。

c.   未經正確處理或未充分乾燥的樣品。

8. 委託操作者須事先將樣品細節告知儀器管理者。 使用者如有申報不實，將被永遠停權並須賠償機台損失並負相關之法律責任。

9. 具自行操作資格人員，若擅自放入有害的樣品於TEM機台，將被永久吊銷使用資格並被追究法律責任。

10. 若發生上述違規情況，因而導致儀器受損，該使用人員所隸屬單位及其實驗室主持人須負擔賠償的責任被追究其造成儀器損傷之法律責任。。

 *本實驗室保留隨時修改本規範之權利。