使用目的 :
金屬薄膜沉積
微電極圖案製作
量測階點建立
薄膜/二維材料生長
製備後續元件用材料
提供量測用樣品
量測電化學反應行為
評估催化材料之活性與穩定性
分析電極界面與反應機制
均勻塗佈薄膜材料
控制薄膜厚度與均勻性
製備後續製成樣品