企業展示・企業講演

大会期間中に協賛企業による「企業展示」を開催いたします。 是非、ご来場下さい。

日 時：平成26年9月18日(木)～19日（金）9:00～17:00

会 場：工学部共通棟201教室

【参加企業】

・日本ナショナルインスツルメンツ(株) ・(株)鹿児島頭脳センター ・アンリツ(株) ・アライドテレシス(株)

・ＮＴＴ西日本(株) ・ＮＴＴ ＩＴ(株) ・(株)ＭＪＣ ・(株)アルトナー ・竹井機器工業(株) ・九州計測器(株)

・ローデ・シュワルツ・ジャパン(株) ・(株)モフィリア ・(株)ユニークメディカル  ・(株)ユーエスアイ

・テレダイン・レクロイ・ジャパン(株)  ・横河メータ＆インスツルメンツ(株) ・計測エンジニアリングシステム(株)　   ・(株)OverK

協賛企業による講演を下記のとおり開催いたします。

内容は企業情報や商品、開発についてなどを講演されます。質疑応答もありますので、多数ご聴講下さい。

第4会場（工学部共通棟302教室） 17 計測

9:30～9:50 テレダイン・レクロイ・ジャパン(株) （論文番号 04-1A-01）

演 題「人間工学を元にしたオシロスコープGUIインタフェースMAUIのご紹介」

講演概要：垂直軸分解能12bitでの8ch同時測定可能なオシロスコープによる、パワー解析分野への測定について

9:50～10:10 テレダイン・レクロイ・ジャパン(株) （論文番号 04-1A-02）

演 題「人間工学を元にしたオシロスコープGUIインタフェースMAUIのご紹介」

講演概要：人間工学に沿って設計されたTeledyneLecroyオシロスコープのGUI(Graphical User Interface)について

第2会場（情報工学科棟73号室）19 生体工学

13:00～13:20 竹井機器工業(株) （論文番号 02-1P-01）

演 題「瞳孔画像処理方式による簡便で安価な眼球運動測定装置の紹介」

講演概要：眼球運動の検出方法には、EOG法、強膜反射法、角膜反射－プルキンエ法などがある。検出精度やキャリブレーション等の操作性などから、近年は角膜反射－プルキンエ法が多く採用されている。しかし角膜反射－プルキンエ法にしても、キャリブレーションや操作方法において手順がかかることや、価格面で課題があった。今回新たに、瞳孔中心を画像処理によって算出し、瞳孔中心の移動量を眼球運動角度に換算する方式を用い、ある程度の精度を確保しつつ、キャリブレーションや測定操作が簡便で、かつ比較的安価な眼球運動測定装置を開発したので紹介する。

第12会場（機械工学科1号棟13教室） 18 制御

13:00～13:20 日本ナショナルインスツルメンツ(株) （論文番号 12-1P-01）

演 題「最新技術が搭載されたポータブル組込ハードウェア 」

講演概要：ナショナルインスツルメンツでは「DO ENGINEERING」というメッセージを掲げ、即戦力エンジニアの育成に力を入れています。教育現場で、実際的な知識を授業に取り入れる工夫が求められており、業界側では、教育の場に対応するツールを開発し、学生でも購入しやすい価格で提供する必要があります。NI myRIOは、学生に教科書ベースではなく、実践で役立つ学びを提供したいという教育者の皆さまを支援します。

第14会場（情報工学科棟71教室） 11 電磁波・アンテナ

13:48～14:08 ローデ・シュワルツ・ジャパン(株) （論文番号 14-1P-05）

演 題「ローデ・シュワルツ社の企業情報のご案内」

講演概要：ローデ・シュワルツはエレクトロニクス、電子計測、機密通信、無線通信、放送、無線モニタリング/無線ロケーションの分野において、業界最高水準の精度と性能を誇るソリューションを提供し続けています。

第6会場（工学部共通棟305教室） 26 教育

15:42～16:02 (株)アルトナー （論文番号 06-1P-07）

演 題「ものづくりのための企業内教育（職場内教育）：パワーエレクトロニクス」

講演概要：株式会社アルトナーが属する常用型の技術者派遣サービス業界の顧客ニーズは「若手即戦力技術者」である．理工系の大学・大学院を卒業した若手技術者たちは，新入社員研修を履修した後に顧客で業務を開始するが，すぐに開発の上流工程（設計業務）に対応できるわけではなく，下流，中流と経験しながら上流工程に移行していく．企業としては，この期間を短縮できる教育カリキュラムを構築することで，同業他社と差別化ができ会社の競争力をアップできる．今回はこれらの背景の中で，近年特に需要の旺盛な「パワーエレクトロニクス」分野に焦点を絞り，早期に上流工程に対応できるレベルに育成する為の教育カリキュラムを報告する．

第14会場（情報工学科棟71教室） 13 半導体・電子デバイス

13:00～13:20 アンリツ(株) （論文番号 14-2P-01）

演 題「最新ベクトルネットワークアナライザの技術動向」

講演概要：近年、ベクトルネットワークアナライザにはSパラメータを測定する機能だけでなく、雑音指数（NF）測定、パルス内位相測定、差動デバイス測定などの測定機能やミリ波測定などの高周波測定への要求が非常に多くなっている。これらの要求に対応した最新のベクトルネットワークアナライザの技術動向や最新機能を紹介する