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Test and measurement equipment for the maintenance and repair of electronics
가변 주파수를 이용한 3D V/I, 매트릭스 V/I 측정을 위한 최상의 제품 AMS
가변 주파수를 이용한 3D V/I, 매트릭스 V/I 측정을 위한 최상의 제품 AMS
AMS External Case 1 Bay
AMS External Case 1 Bay
Advanced Matrix Scanner Module
SYSTEM8 AMS
Advanced Matrix Scanner Module
SYSTEM8 AMS
AMS는 주파수 가변을 통한 V/I 분석으로 고장의 발견 확률을 높이며 지정된 기준점에 대해 모든 포인트의 V/I 분석용 매트릭스 결과를 표시할 수 있습니다. 전자 부품의 고장 및 잠재적인 고장을 예측하고 정비할 수 있는 방법을 제공합니다.
AMS는 최근에 추가된 측정, 시험 모듈로 파워 오프 상태에서의 고장 검출을 위해 새롭고 유일한 기능을 제공합니다.
AMS 는 전원을 끈 상태에서 구성 요소 및 PCB 어셈블리 의 분석을 위한 혁신적인 솔루션입니다. 고유 의 테스트 기술을 사용하여, 내부 손상 및 불일치를 포함하여 결함 의 검출을 위한 전기신호 에 대한 액세스를 제공합니다. 고장 커버리지를 증가시키는 동시에 오류 검출 시간을 감소시킵니다.
■ Features
V/I signature analysis with frequency range
V/I signature analysis (static frequency)
Matrix V/I analysis (multiple reference)
Dynamic V/T analysis (pulse outputs)
Automatic live comparison
Automatic comparison with saved mask
Interactive test sequences with the ABI software
■ Specifications
64 channels per module (expandable to 2,048 channels)
4 single channels
4 configurable pulse outputs
4 ground connections
■ Presentations
■ Presentations
Watch the video presentation of SYSTEM 8 AMS - click here
■ Downloads
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