Test and measurement equipment for the maintenance and repair of electronics
SYSTEM 8 아날로그 IC Tester에서 사용되는 4개의 펜으로 구성된 세트이다. AICT에서 Discrete 소자에 대한 별도의 수고로움 없이 바로 시험을 할 수 있습니다.
내부에 스프링으로 연결되어 접점을 안정적으로 연결 시킬 수 있습니다.
사양
Type 1,3 pin (SOT 23 and similar)
Type 2,3 pin (TO72 and similar)
Type 3,3 pin (TO220 and similar)
Type 4,3 pin (TO92 and similar)
Type 5,3 pin (SOT-323 and similar)
ABI Interface Adapter는 인코어테크놀로지에서 개발한 테스트 지그로 AMS, AICT 모듈에서 VI 시험을 수행할 수 있고 아날로그 IC에 대한 기능시험을 수행할 수 있는 인터페이스입니다.
VI 시험의 경우 제공되는 SOIC 케이블 커넥터 조립체를 이용해 안전하게 부품에 고정할 수 있어 ATM의 디지털 V-I, AMS 모듈 등을 상호 이용하여 시험을 수행할 수 있습니다.
● ABI Interface Out-of-Circuit Testing
● Test Clip Sharing
ABI Interface Out-of-Circuit Testing
AICT: Analog IC Tester (Out-Of-Circuit), VI Tester, Matrix VI Mode
ATS: VI Tester, Matrix VI Mode
AMS: 3D V-I Tester (Auto (clip) Mode), V-I Matrix Tester, max 48 Test Points
BFL/ATM: Digital IC Tester with user connection of Vcc and Gnd
Test Clips with fixed wire sharing
Test Clip 사용 공유
ABI Interface Adapter룰 사용할 경우 AICT에서 사용하는 테스트 클립을 다른 모듈에서도 공통으로 사용하수 있습니다. 테스트 클립의 경우 케이블과 접속을 안정적으로 하기 위해 솔더링으로 연결해 사용할 수 있습니다. 이런 경우 아래의 그림과 같이 AICT용 케이블의 경우 AMS나 ATM/BFL에서도 사용할 수 있고 그 반대의 경우도 다양한 방법으로 공유해 사용할 수 있게 합니다.
ABI사 SYSTEM8 모듈인 AMS나 AICT를 이용하면 PCB 상의 다양한 릴레이에 대해 쉽게 시험을 수행할 수 있습니다. 릴레이를 PCB에서 떼어내지 않고 V-I 신호와 동기화된 별도의 펄스 신호를 이용함으로써 릴레이 동작을 제어할 수 있고 동작하는 릴레이 접점의 상태를 V-I 형상으로 비교 할 수 있습니다. 릴레이 접점 상태나 동작 특성을 2차원 곡선으로 화면상에 표현함으로써 직관적으로 고장을 검출할 있습니다.
양품 데이터와 비교 시험을 함으로써 시험 대상의 릴레이 특성 저하나 고장 등을 쉽게 Pass/Fail 결과로 표시할 수 있습니다.
USB 릴레이 컨트롤러는 4개까지의 외부 연결 채널을 on / off 스위치하는 용도로 사용됩니다. 시스템 8 Ultimate 소프트웨어는 자동으로 명령을 전달해 릴레이를 활성화 또는 비활성화 시킬 수 있습니다.
예로 이러한 릴레이는 전등이나 경보, 전원공급기의 출력등에 연결되어 사용될 수 있습니다.
일반적인 사용
USB 릴레이 컨트롤러는 사용자가 Variable Power Supply (VPS)를 가지고 있지 않을 경우 Advanced Test Module (ATM)과 함께 쓰면 매우 유용하다. 예로, 릴레이 컨트롤러는 외부의 전원공급기와 연결되어 Advanced IC Tester에서 IC 시험을 위해 전원을 자동으로 공급하거나 안전성 위해 시험이 종료될 겨우 또는 이상이 감지될 경우 소프트웨어에서 자동으로 연결을 끊을 수 있다.
다른 형태로는 Test Flow의 자동 시험에서 Pass, Fail의 상태를 외부에 표시하기 위한 용도로 경보 램프 등에 연결하여 사용할 수도 있다.