駒場分析コアは共有設備管理のための分科会です
駒場分析コア利用内規
利用内規を必ずお読みください．
web利用申請ページ
PDF利用申請書ダウンロードページ
web利用申請もしくはPDF利用申請の一方をご利用ください．
成果発表の際の謝辞例
申請書の提出先は各装置により異なります．各装置の説明をご覧ください．
駒場分析コア・共用装置
集束イオンビーム加工装置（FIB-SEM）
装置説明：Thermo fisher Scios2
用途：FIBによるTEM試料作成と微細加工
FE-SEMによる二次電子・反射電子像観察
STEMモードによる暗視野・明視野像観察
FIB+SEMによる3次元マルチモーダル観察
FE-SEM-EDSによる組成マッピング(2022年追加装備）
FIB+SEM+EDSによる3次元組成マッピング(2022年追加装備）
仕様・装備：Dual Beam（Gaイオン，電子線），ピックアップ
デポ銃（Carbon, Pt, W），EDS組成分析(2022年追加装備）
管理：駒場分析コア分科会 （主担当：生産技術研究所・溝口研究室）
利用相談：
利用相談フォームをご利用ください．
もしくは，福田（atfukuda(_at_)iis.u-tokyo.ac.jp），神子（kamiko(_at_)iis.u-tokyo.ac.jp）にメールで直接ご相談ください．
申請方法：
利用規則をよく読み，web利用申請もしくはPDF利用申請をご利用ください．
PDF利用申請の場合，利用申請書を記入，スキャンしたものを福田技術職員（atfukuda(_at_)iis.u-tokyo.ac.jp）もしくは神子助教（kamiko(_at_)iis.u-tokyo.ac.jp）にメールで申請してください．
*(_at_)を@に変更してください．
利用料金（税込み）：
初回講習料（11,000円/日（FE-SEMのみ），44,000円/日（FIB含む））
機器利用（1日）：33,000円（学内），33,000円（大学発ベンチャー），55,000円（学外）
本装置のFIB加工でシリコンウェハー上に描かれた東大生研ロゴ
3次元マルチモーダル観察により得られた積層セラミックコンデンサーの3次元組織
質量分析装置
装置説明：JEOL SpiralTOF™-plus
用途：質量測定・組成推定
TOF-TOFモードによるMS/MS測定
管理研究室：駒場分析コア分科会 （主担当：生産技術研究所・工藤研究室，南研究室）
利用相談：
利用相談フォームをご利用ください．
もしくは，奥山（oku(_at_)iis.u-tokyo.ac.jp）にメールで直接ご相談ください
申請方法：
利用規則をよく読み，web利用申請もしくはPDF利用申請をご利用ください．
PDF利用申請の場合，同利用申請書を記入，スキャンしたものを奥山（oku(_at_)iis.u-tokyo.ac.jp）にメールで申請してください．
*(_at_)を@に変更してください．
利用料金（税込み）：
機器利用（1試料）：13,200円（学内外），6,600円（大学発ベンチャー）
本装置を用いておこなわれた有機化合物の質量分析結果
セルソーター
装置説明：BD FACS Melody
用途：蛍光標識された細胞の分取と分析
仕様・装備：3レーザー8カラー（488nm/640nm/561nm）
プレートソーティングオプション
同室にCO2インキュベーターとクリーンベンチ有り
管理研究室：駒場分析コア分科会 （主担当：生産技術研究所・池内研究室）
利用相談：
利用相談フォームをご利用ください．
もしくは，神野（kahi(_at_)iis.u-tokyo.ac.jp），伊藤（ito-soshi407(_at_)g.ecc.u-tokyo.ac.jp）にメールで直接ご相談ください．
申請方法：
利用規則をよく読み，web利用申請もしくはPDF利用申請をご利用ください．
PDF利用申請の場合，同利用申請書を記入，スキャンしたものを神野（kahi(_at_)iis.u-tokyo.ac.jp）、伊藤（ito-soshi407(_at_)g.ecc.u-tokyo.ac.jp）にメールで申請してください．
*(_at_)を@に変更してください．
利用料金（税込み）：
機器利用料（1時間）：2,200円（学内），4,400円（大学発ベンチャー），6,600円（学外）
共焦点顕微鏡
用途：共焦点顕微鏡観察
ハイコンテント細胞解析
仕様・装備：A1R共焦点顕微鏡（4レーザー）
CCDカメラ
Okolabチャンバー
ライコニック 自動インキュベーター（44枚）
自動撮影スケジューラー機能あり
同室にCO2インキュベーターとクリーンベンチ有り
管理研究室：駒場分析コア分科会 （主担当：生産技術研究所・池内研究室）
利用相談：
利用相談フォームをご利用ください．
もしくは，神野（kahi(_at_)iis.u-tokyo.ac.jp），伊藤（ito-soshi407(_at_)g.ecc.u-tokyo.ac.jp）にメールで直接ご相談ください．
申請方法：
利用規則をよく読み，web利用申請もしくはPDF利用申請をご利用ください．
PDF利用申請の場合，同利用申請書を記入，スキャンしたものを神野（kahi(_at_)iis.u-tokyo.ac.jp）、伊藤（ito-soshi407(_at_)g.ecc.u-tokyo.ac.jp）にメールで申請してください．
*(_at_)を@に変更してください．
利用料金（税込み）：
機器利用料（1時間）：2,200円（学内），4,400円（大学発ベンチャー），6,600円（学外）
生産技術研究所・既存共有設備
透過型電子顕微鏡
透過型電子顕微鏡利用停止のお知らせ
現在、透過型電子顕微鏡JEM-2010Fは故障により利用できません。
利用再開は来年度となる見込みです。
利用再開時期が決定しましたら改めてHP上でお知らせします。
装置説明：JEOL-2010F
用途：材料の組織観察（明視野，暗視野），回折図形，組成分析
仕様・装備：電界放出型電子銃，加速電圧（200kV，120kV），CCD（像及び回折図形），エネルギー分散型X線分光（EDS）
管理研究室：生産技術研究所・徳本研究室
【本装置は研究室が管理し，事務処理を駒場分析コアが代行しております．使用に際しては管理研究室主宰者の指示に従ってください】
利用相談：
利用相談フォームをご利用ください．
もしくは，徳本（tokumoto(_at_)iis.u-tokyo.ac.jp）までメールで直接ご相談ください．
申請方法：
利用規則をよく読み，web利用申請もしくはPDF利用申請をご利用ください．
PDF利用申請の場合，同利用申請書を記入，スキャンしたものを徳本（tokumoto(_at_)iis.u-tokyo.ac.jp）にメールで申請してください．
*(_at_)を@に変更してください．
利用料金（税込み）：
機器利用料（1日）：5,500円（学内），5,500円（大学発ベンチャー），7,700円（学外）
技術支援（1日）：11,000円（学内），11,000円（大学発ベンチャー），15,400円（学外）
精密イオンポリッシャー
装置説明：Gatan PIPS Model691
用途：試料薄片加工（Arイオンビーム使用）
仕様・装備：加速電圧（100V～6kV），CCDカメラ，冷却ホルダー
管理研究室：生産技術研究所・溝口研究室
【本装置は研究室が管理し，事務処理を駒場分析コアが代行しております．使用に際しては管理研究室主宰者の指示に従ってください】
利用相談：
利用相談フォームをご利用ください．
もしくは，溝口（teru(_at_)iis.u-tokyo.ac.jp）までメールで直接ご相談ください．
申請方法：
利用規則をよく読み，web利用申請もしくはPDF利用申請をご利用ください．
PDF利用申請の場合，同利用申請書を記入，スキャンしたものを溝口（teru(_at_)iis.u-tokyo.ac.jp）にメールで申請してください．
*(_at_)を@に変更してください．
利用料金（税込み）：
初回講習料：2,200円
機器利用料（1日）：3,300円（学内），3,300円（大学発ベンチャー），4,400円（学外）
イオンスライサー
装置説明：JEOL IS EM-09100IS
用途：短冊状試料のアルゴンイオン研磨によるTEM試料作製
仕様・装備：加速電圧：1~8 kV，傾斜角：±6° (0.1°ステップ)，使用ガス：アルゴン，試料サイズ：幅2.5-2.8mm, 高さ0.5-1.0mm, 厚さ100μm
管理研究室：生産技術研究所・徳本研究室
【本装置は研究室が管理し，事務処理を駒場分析コアが代行しております．使用に際しては管理研究室主宰者の指示に従ってください】
利用相談：
利用相談フォームをご利用ください．
もしくは，徳本（tokumoto(_at_)iis.u-tokyo.ac.jp）までメールで直接ご相談ください．
申請方法：
利用規則をよく読み，web利用申請もしくはPDF利用申請をご利用ください．
PDF利用申請の場合，同利用申請書を記入，スキャンしたものを徳本（tokumoto(_at_)iis.u-tokyo.ac.jp）にメールで申請してください．
*(_at_)を@に変更してください．
利用料金（税込み）：
初回講習料：4,400円
機器利用料（1日）：6,600円（学内），6,600円（大学発ベンチャー），8,800円（学外）
X線CT
装置説明：Bruker SYKSCAN1172
用途：・試料の内部構造や欠陥などの検出
仕様・装備：空間分解能5µm以上，
試料サイズ：直径27mm以下，高さ70mm以下，
透過像ピクセル構成：最大8000×2670ピクセル
管理研究室：生産技術研究所・梶原研究室
【本装置は研究室が管理し，事務処理を駒場分析コアが代行しております．使用に際しては管理研究室主宰者の指示に従ってください】
利用相談：
利用相談フォームをご利用ください．
もしくは，梶原（kajihara(_at_)iis.u-tokyo.ac.jp）までメールで直接ご相談ください．
申請方法：
利用規則をよく読み，web利用申請もしくはPDF利用申請をご利用ください．
PDF利用申請の場合，同利用申請書を記入，スキャンしたものを梶原（kajihara(_at_)iis.u-tokyo.ac.jp）にメールで申請してください．
*(_at_)を@に変更してください．
利用料金（税込み）：
機器利用料（１時間）：2200円（学内），4400円（ベンチャー），8800円（学外）
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