Scientific Presentations

2023年

1. "In situ Atomic-Scale STEM Imaging of Electron-Beam Induced Dynamics at PbS–Pb Solid–Liquid Nanointerfaces"
   S. Yamashita, Y. Inatomi, Y. Inaba, M. Tanabe, T. Nishi, Y. Kudo; Microscopy & Microanalysis 2023

2022年

1. "CuInSe2/ZnSコアシェル型量子ドットのナノ構造と光物性相関"
   山下俊介, 田邊守, 荒木拓海, 塩見治典, 西寿朗, 工藤喜弘; 第69回応用物理学会春季学術講演会

2019年

1. "電子エネルギー損失分光法スペクトルを対象とした結晶性および組成の解析手法の開発"
   山本寛人, 田中健一, 山下俊介, 浮田昌一, 中野博史, 白沢楽, 冨谷茂隆, 小寺正明, 船津公人; 第42回ケモインフォマティクス討論会

2. "硬X線光電子分光法による金属/GaN界面のバンド構造評価"
   水島啓貴, 新井龍志, 稲葉雄大, 山下俊介, 山口雄大, 蟹谷裕也, 工藤喜弘, 濱口達史, 幸田倫太郎, 簗嶋克典, 冨谷茂隆; 第80回応用物理学会秋季学術講演会

3. "酸素分圧制御下で合成した不定比SrTiO3-δ の光触媒活性への電子ドーピング効果"
   西岡駿太, 兵頭潤次, JUNIE, Jhon M. Vequizo, 山下俊介, 熊谷啓, 木本浩司, 山方啓, 山崎仁, 前田和彦; 第123回触媒討論会

2018年

1. "Elements of quantitative ADF imaging for crystallography; quantitative, precise and reproducible methodology"
   K. Kimoto, S. Yamashita, K. Ishizuka; 19th International Microscopy Congress

2. "RonchigramによるSTEM対物レンズ収差の計測"
   木本浩司, 山下俊介, 吉川純, 長井拓郎, 柳澤圭一, 石塚和夫; 日本顕微鏡学会第74回学術講演会

3. "定量STEM-ADF観察による二次元材料の結晶構造解析"
   山下俊介, 木本浩司; 日本顕微鏡学会第74回学術講演会

4. "定量的STEM観察による結晶構造解析の試み"
   木本浩司, 山下俊介, 越谷翔悟, 吉川純, 長井拓郎, 石塚和夫; 日本顕微鏡学会第42回関東支部講演会

5. "Synthesis and photocatalytic activity of a layered perovskite oxynitride Li2LaTa2O6N"
   T. Oshima, K. Muraoka, VEQUIZO Junie Jhon M., S. Yamashita, A. Yamakata, K. Kimoto, O. Ishitani, K. Maeda; 日本化学会第98春季年会(2018)

6. "先端的電子顕微鏡による微細構造解析の現状"
   木本浩司, 長井拓郎, 吉川純, 山下俊介; 第65回応用物理学会春季学術講演会

7. "STEM-ADF像の定量計測による二次元材料の積層構造解析"
   山下俊介, 越谷翔悟, 石塚和夫, 木本浩司; MI・計測 合同シンポジウム

8. "電子顕微鏡による先端材料の微小領域解析"
   木本浩司, 長井拓郎, 吉川純, 越谷翔悟, 山下俊介; 第56回セラミックス基礎科学討論会

2017年

1. "先端的な電子顕微鏡による微小領域の材料評価の現状"
   木本浩司, 山下俊介, 長井拓郎, 越谷翔悟, 吉川純; 第7回CSJ化学フェスタ2017

2. "環状暗視野STEM像の定量計測手法の開発と結晶構造解析への応用"（依頼講演）
   山下俊介, 第110回先端計測オープンセミナー

3. "チャンネリング効果による二次元材料の構造解析"
   山下俊介, 越谷翔悟, 石塚和夫, 木本浩司; 日本顕微鏡学会第73回学術講演会

4. "Crystal Structure Analysis of Two-dimensional Materials using Quantitative Annular Dark-Field Imaging"
   S. Yamashita, S. Koshiya, K. Ishizuka, K. Kimoto; EDGE 2017: Enhanced Data Generated by Electrons

5. "STEM-ADF像の定量計測による遷移金属カルコゲナイドの構造解析"
   山下俊介, 越谷翔悟, 石塚和夫, 木本浩司; 共用・計測 合同シンポジウム2017

2016年

1. "収差補正電子顕微鏡による高分解能高感度観察"
   木本浩司, 山下俊介, 越谷翔悟, 石塚和夫; 2016 真空・表面科学合同講演会

2. "Direct observation of dye molecules for solar cell on a titania nanosheet surface by ADF-STEM"
   S. Koshiya, S. Yamashita, K. Kimoto; NIMS WEEK 2016

3. "Quantitative Annular Dark-Field Imaging at Atomic Resolution"
   S. Yamashita, S. Koshiya, K. Ishizuka, K. Kimoto; The 16th European Microscopy Congress

4. "Quantitative Annular Dark-Field Imaging at Atomic Resolution"
   S. Yamashita, S. Koshiya, K. Ishizuka, K. Kimoto; Microscopy & Microanalysis 2016

5. "ADF-STEMによる色素増感太陽電子用高分子の直接観察"
   越谷翔悟, 山下俊介, 木本浩司; 日本顕微鏡学会第72回学術講演会

6. "STEM-ADF像の定量解析を可能とする計測・解析技術"
   木本浩司, 山下俊介, 越谷翔悟, 石塚和夫; 日本顕微鏡学会第72回学術講演会

7. "二次元材料の定量的環状暗視野法"
   山下俊介, 越谷翔悟, 石塚和夫, 木本浩司; 日本顕微鏡学会第72回学術講演会

8. "ADF-STEMによる色素増感太陽電池用高分子の直接観察"
   越谷翔悟, 山下俊介, 木本浩司; 共用・計測 合同シンポジウム2016

9. "原子分解能STEM-ADF像の定量解析による実効光源分布の推定"
   山下俊介, 越谷翔悟, 石塚和夫, 木本浩司; 共用・計測 合同シンポジウム2016

2015年

1. "Lower-Voltage Electron Microscopy for Material Characterization"
   木本浩司, 山下俊介, 越谷翔悟, 吉川純, 長井拓郎, 石塚和夫; 10th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '15 (ALC '15)

2. "単層グラフェン原子分解能STEM-ADF像の定量解析"
   山下俊介, 越谷翔悟, 石塚和夫, 木本浩司; 第31回分析電子顕微鏡討論会

3. "Quantitative Annular Dark-Field Imaging of Single-Layer Graphene"
   S. Yamashita, S. Koshiya, K. Ishizuka, K. Kimoto; Microscopy & Microanalysis 2015

4. "Direct observation of the dye for dye-sensitized solar cell by STEM"
   S. Koshiya, S. Yamashita, K. Kimoto; NIMS Conference 2015

5. "Quantitative high-resolution STEM imaging for crystal structure analysis"
   K. Kimoto, S. Yamashita, S. Koshiya, K. Ishizuka; NIMS Conference 2015

6. "Quantitative Atomic-Resolution Annular Dark-Field Imaging of Single-Layer Graphene"
   S. Yamashita, S. Koshiya, K. Ishizuka, K. Kimoto; NIMS Conference 2015

7. "色素増感太陽電池用高分子のSTEM観察"
   越谷翔悟, 山下俊介, 大和田めぐみ, 木本浩司; 日本顕微鏡学会第71回学術講演会

8. "単層グラフェンSTEM-ADF像の定量解析"
   山下俊介, 越谷翔悟, 石塚和夫, 木本浩司; 日本顕微鏡学会第71回学術講演会

9. "信号検出系の応答特性評価によるSTEM-ADF像の定量計測手法の開発"
   山下俊介, 越谷翔悟, 石塚和夫, 木本浩司; 共用・計測 合同シンポジウム2015

10. "信号検出系の応答特性評価によるSTEM-ADF像の定量計測手法の開発"
    山下俊介, 越谷翔悟, 石塚和夫, 木本浩司; 2014年度 超高分解能顕微鏡法分科会 合宿研究会

2014年

1. "STEM-HAADF像の定量的計測手法の開発とグラフェン試料への適用"
   山下俊介, 木本浩司, 石塚和夫; 第30回分析電子顕微鏡討論会

2. "環状暗視野検出器の応答特性評価とSTEM-ADF像の定量解析"
   山下俊介, 越谷翔悟, 木本浩司; 日本顕微鏡学会第70回記念学術講演会

3. "STEM-ADF像の定量解析に向けた検出器の応答特性評価"
   山下俊介, 越谷翔悟, 木本浩司; 共用・計測 合同シンポジウム2014

2010年

1. "カーボンナノ材料の液相中における抵抗加熱一段合成"
   山下俊介, 山際清史, 喜々津智郁, 小泉幸平, 瀬田悠; 綾戸勇輔, 桑野潤, 第37回炭素材料学会年会

2009年

1. "高配向カーボンナノチューブ液相一段合成法における水添加効果"
   山下俊介, 喜々津智郁, 山口吉弘, 山際清史, 桑野潤; 第29回エレクトロセラミックス研究討論会