[14] Desktop Scanning Electron Microscopy (SEM) : 전자현미경 : Sec SNE-4500M

[19] Atomic Force Microscopy (AFM) : 원자힘현미경 :  N8 ARGOS AFM

[28] Confocal Laser Scanning Microscopy (Confocal) : 공초점 레이저 주사 현미경 : Leica TCS SPE

[30] Confocal Laser Scanning Microscopy (Confocal) : 공초점레이저주사 현미경 (예정)

[12] X-ray Detector Controller : X-ray 검출기 : Bruker Photon II

[22] X-ray Reflectometer: X-선 반사율 장치 : Bruker ADVANCE 8 

[23] X-ray Diffractometer: X-선 회절 분석기 : Bruker D8-QUEST

[01] FT-IR Microscopy/Spectrometry : FT-IR 푸리에 적외선 현미경/분광기 : Agilent Cary640

[02] FT-IR Imaging Detector: FT-IR 푸리에 적외선 이미지 탐지기 :  MCT FPA Camera Detector

[03] 3D Holotomographic Microscopy with 3D Fluorescence :  Tomocube HT-2H

[29] Ultra-Resolution Confocal Microscopy : 초고해상도 공초점 현미경 : Abberier Instruments