학술대회 및 수상

◾ 염현준, 권민우, 불 연산용 전하 트랩 층을 적용한 양성 피드백 전계효과 트랜지스터 어레이 기반 인-메모리 컴퓨팅 구조, IEIE 추계학술대회, 대한민국, 곤지암리조트, 2025권민우

◾ 염현준, 권민우, In-Memory Computation Using Positive Feedback Field Effect Transistor Array Based on Charge Trap Layer for Boolean Logic Operations, International Conference on Solid State Devices and Materials 2025 (SSDM 2025), 일본, 요코하마, 2025권민우

◾ 전휘찬, 권민우, Work Function Engineering in Dual Metal BCAT DRAM for Simultaneous Mitigating GIDL, GIJL, PGE and 1-RD, International Conference on Solid State Devices and Materials 2025 (SSDM 2025), 일본, 요코하마, 2025권민우

◾ 이재원, 권민우, Circuit-Level Compact Modeling of a Dual-Gate Feedback Field-Effect Transistor with Charge-Trap Flash Layer, 2025 전자·반도체·인공지능 학술대회, 강릉원주대학교, 2025권민우

◾ 염현준, 권민우, 전하 트랩층 기반 피드백 전계효과 트랜지스터 어레이를 이용한 인메모리 XOR 연산 소자 구조 연구, 2025 전자·반도체·인공지능 학술대회, 강릉원주대학교, 2025권민우

◾ 김다민, 염현준, 권민우, "Implementation of Read and Write Operationsina Processing-in-Memory Device Based on Positive Feedback Transistors", 2025 전자·반도체·인공지능 학술대회, 대한민국, 강릉원주대학교, 2025권민우

◾ 전휘찬, 권민우, "Work Function Engineering of Dual Metal BCAT DRAM for Mitigating Pass Gate Effect and 1-Raw Disturb", 2025 전자·반도체·인공지능 학술대회, 대한민국, 강릉원주대학교, 2025권민우

◾ 이수빈, 전휘찬, 권민우, "Work Function Engineering in Dual Metal BCAT DRAM for Optimization of Gate-Induced Leakage Currents", 2025 전자·반도체·인공지능 학술대회, 대한민국, 강릉원주대학교, 2025권민우

◾ 박민선, 정항욱(국립강릉원주대학교), 권민우(서울과학기술대학교), NAND Flash Array 기반 Positive Feedback FET를이용한인메모리컴퓨팅소자개발, 대한전자공학회 추계학술대회, 하이원리조트, 2024

◾ Compact Modeling of a Dual-Gate Feedback Field-Effect Transistor for Low-Power Circuits and PIM Applications, Best student paper bronze award, 2025 IEEE Seoul Section Student Paper Contest, 2025권민우

◾ charge trap flash structure with feedback field effect transistor for processing in memory, 해동 우수논문상, 대한전자공학회, 2025