本實驗室提供多項精密量測服務,各儀器收費標準如本頁面相關說明,量測時數部分則按本實驗室操作人員實際實驗時間計算,無法事先提供報價單。實驗儀器也必須由本實驗室人員操作,無法提供外部委託人員申請借用,但量測服務委託方若有需要,可於實驗過程在旁觀看、提供您的需求意見。
信件預約:請先寄信至本實驗室主持人陳教授信箱 - lchen@ntu.edu.tw,請儘量說明需要量測試片的材質、大小、透光率等性質,並且敘明預計使用的量測機台。
收到您的來信後,本實驗室將儘快與您聯絡相關量測細節,謝謝。
真圓度量測儀 2000 NT/hour
三豐三次元量測儀 2000 NT/hour
白光干涉儀形貌量測技術服務費 2000 NT/hour
共焦量測儀形貌量測技術服務費 2200 NT/hour
廠牌:英國 Taylor Hobson
型號:Talyrond 365
本儀器主要結構以水平臂探針接觸式真圓度量測,擁有高穩定度系統、零摩擦之空氣軸承主軸、高精度位移控制系統及自動水平、中心校準系統,用來檢測精密至超精密加工件的真圓度及與圓軸相關的幾何精度,如同心度、圓柱度、偏心度、垂直度、部份圓、垂直度等。
1. 旋轉台:直徑 300 mm、空氣軸承、解析度 0.02°
2. 垂直軸:長度 500 mm、定位解析度 0.25 μm
3. 水平軸:行程 200 mm、直線性精度 0.25 μm
4. 探頭球徑:(1、2、4) mm、量測範圍 +/-1 mm、解析度 0.03 μm
廠牌:日本三豐 Mitutoyo
型號:STRATO-Apex 574
本儀器擁有高剛性結構設計與補償技術,超高精度玻璃光學尺為各軸提供更高解析度、精度,除震台隔絕地板震動對機台影響並快速恢復機台水平,可實現高速、高精度測量。
1. 測定範圍:500 mm × 700 mm × 400 mm
2. 最大容許長度量測誤差:E = 0.7 + 2.5L / 1000 μm
廠牌:日本 KEYENCE
型號:控制器 VK-X1000 / 量測頭 VK-X1100
本儀器擁有光學顯微鏡的方便性 , 同時具備有 SEM 與表面粗度儀的分析功能,可對 3D 物件進行非接觸式量測, 獲得特徵形狀、表面粗糙度等量測資訊。量測具高解析度、長景深且量測對象通用性高,同時使用短波長雷射與白光光源,可提供實際色彩的高解析度影像。
1. 倍率:至 28800 倍
2. 視野:11 μm 至 7398 μm
3. 高度量測顯示解析度:0.5 nm
4. 雷射光源:紫色半導體雷射 404 nm
廠牌:自製
型號:20X Mirau Objective / Besler CCD with pixel size 22μm/ PI PZT
本儀器擁有光學顯微鏡的方便性 ,可對 3D 物件進行非接觸式量測, 獲得特徵形狀、表面線粗糙度等量測資訊。量測具高垂直解析度、長垂直掃描距離且量測對象通用性高,同時使用寬頻LED白光光源,可提針對一定反射率的表面形貌獲得高解析度影像。
1. 倍率:20 倍
2. 視野:730μm×543μm
3. 高度量測顯示解析度:1 nm
4. 白光光源:白光LED
5.掃描深度30μm