閃頻儀是控制光源發光,以特定頻率快速閃動的光學測量儀器。頻閃儀可以發出短暫又頻密的閃光,當閃光頻率與被測物體的轉動或運動速度接近或同步時,利用眼睛的視覺暫留或視頻同步,能輕易觀測到高速運動物體的表面質量或運行狀況。
多通道訊號擷取盒/資料擷取卡(DAQ)(外殼上可見「信號擷取卡 (4+1ch) 模組」字樣)
衝擊錘(Impact Hammer)(紅色握把、前端接線)
感測器/加速度計(Accelerometer)(銀色小圓柱狀,通常磁座或螺牙固定)
本系統用於結構/機械設備之動態響應量測與模態參數辨識。透過多通道資料擷取模組同步量測激振輸入(衝擊力)與結構輸出(加速度/速度/位移),建立頻率響應函數(FRF),進而求得結構之固有頻率(Natural Frequency)、阻尼比(Damping Ratio)與振型(Mode Shape)。量測結果可進一步與有限元素模態分析(FEA Modal)比對,用於模型校正、異常診斷與結構設計優化。
量測範圍:0-465mm
尺寸:280 X 273 X 784 mm
重量:25kg
滑桿行程:350 mm
分辨率:0.001/0.005 mm
20℃時精度:±(2.4+2.1L/600)um
重複精度:1.8 um
垂直度:0-350 mm 型7為um
導向方式:滾珠軸承
驅動方式:手動
解析度:0.01 um
最大的速度:3600 mm/sec
量測範圍:15 m
溫度範圍:15.5℃ ~ 32℃
本非接觸式表面粗糙度量測系統以光學量測方式取得工件表面之高度/輪廓資訊,避免傳統接觸式探針造成刮傷或因接觸力導致量測誤差,適用於精密加工表面、鍍膜/拋光表面與軟質材料。系統可輸出常用粗糙度參數(如 Ra、Rq、Rz、Rt 等),並可進行量測區域之輪廓分析、統計比較與製程品質監控,支援研究與產線品管應用。
上下光源控制採LED光源分為白光及綠光
原廠機械台150 X 100mm
工作距離155cm以上
目鏡10X視野數22cm以上
精度50mm行程(3+L/150)um, 100 mm行程(3+2L/100)um,150mm 行程(3+3L/150)um(P.S.L為測量長度),最小讀值0.1um
物鏡採用無鉛氟石鏡頭 5X/10X/20X/50X (20X/20X為長工作距離) (P.S 50X工作距離可達10.5mm以上
輔助Z軸對焦功能
三次元量床,簡稱三次元,又稱座標量測儀 (Coordinate Measuring Machine,CMM)。
三次元量床其量測原理為利用探針去碰撞工件的邊緣,取得該位置的座標值,再減去測頭的半徑即為工件的實際座標值。
一般量測儀的三軸都有安裝光學尺,當測頭接觸到工件時,會送出訊號以擷取目前座標值,再經由量測軟體運算處理,便可計算出我們要的座標值或尺寸,所以您只要依照量測位置去取點便能得到量測數據。
檢出器
測定力:100mN(10gf)以下可變
測定範圍:1800um(b STYLUS ARM 使用時,含內外徑,測定機能
觸針:尖端半徑 R 0.8mm 超硬
上下機動部
真直度測定精度:0.6 um/100mm(1.2um/250mm)
與回轉軸線之平行度:1.5um/200mm
移動量:250mm
移動速度:0.5,1,2,5 mm/s(手動可)
最大測定高度:外徑 420mm,內徑 270mm
增幅演算裝置
濾波器(filter):2CR 一般,2 CR 補償
倍率:100~50,000
評價法:MZC,LSC,MCC,LSL,MZL共六種
測定項目:真圓度,平面度,圓筒度,同軸度,同心度,真直度,直角度,平行度,面平行度,偏擺度,圓周震動,histogram
半徑方向移動部
移動量:160mm(電動,自動停止,手動)
最大位置顯示:0.01mm
迴轉台
回轉軸機構方式:多孔質靜壓空氣軸承
回轉精度:JISB7451 (0.04+0.0006H)um
回轉速度:1~10 rpm 可變
檯面大小:Ø180mm
求心調整範圍:±2mm(手動)
傾斜調整範圍:±1° (手動)
承載重量(MAX.):20kg
最大測定直徑:Ø368mm
最大承載直徑:Ø450mm
機器尺寸
測定部本體:590 X 332 X 918 mm,130kg
增幅演算裝置:406 X 342 X 270 mm,20kg(不含 PC,PRINTER)
操作部:312 X 181 X 51 mm, 1.5kg
⊙線上量測系統
適用於小型加工中心
內置全方向測量機構的精簡型測頭檢測工件位置
修正工件旋轉偏移
機台軸向溫升變位補償
輪廓量測